日本大塚OTSUKA显微分光膜厚仪北崎

显微分光膜厚仪 OPTM SERIES 产品特点： 非接触、非破坏式，量测头可自由集成在客户系统内 初学者也能轻松解析建模的初学者解析模式 高精度、高再现性量测紫外到近红外波段内的*反射率，可分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率、k：消光系数） 单点对焦加量测在1秒内完成 显微分光下广范围的光学系统（紫外 ~ 近红外） 独立测试头对应各种inline定制化需求 *小对应spot约3μm *可针对薄膜解析nk 北崎国际贸易（北京）有限公司 优势销售