性能特点
■ 高分辨：10.1英寸，分辨率1280*800，电容式触摸屏
■ 高稳定性和一致性：14个量程配置
■ 高功率：信号电平：20V/100mA
内置直流偏置：±40V/100mA
内置偏流源：2A
■ DCR电平：20V/100mA
■ 高速度：双CPU架构，*快达1800次/s的测试速度
■ 点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
■ 四参数测量
■ 201点多参数列表扫描功能
■ 图形扫描功能，4轨迹任意选择，支持1/2/4分屏
■ 分选功能：LCR模式10档分选
■ 高兼容性：支持SCPI/MODBUS指令集，
兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A
简介
A.10.1寸大屏，四种测量参数，让细节一览无遗
10.1寸触摸屏、1280*800分辨率，Linux系统、中英文操作界面，支持键盘、鼠标、LAN接口，带来的是无以伦比的操作便捷
性。
大屏幕带来更多的好处是，可以把4个测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕，而且看起来绝不拥
挤和杂乱，同时可以显示四种测量参数，四种测量参数任意可调。
和早期LCR对比，操作便捷性、显示完整性一目了然。
B.高达1800次/秒测量速度
由于创新性的采用了双CPU设计，一个CPU负责测试处理数据，另一个CPU负责显示数据，因此TH2840测试速度高达1800次/秒。
高速的测试速度在自动化产线可以极大的提高效率。
对于部分需要实时采样体现被测件瞬态变化特征，或者测量变化过程相应时间，TH2840系列0.56ms的测量速度可*解决。
如下列应用，在两个极板之间加载偏压，两端电容随着偏置电压变化而变化.
记录未加偏置时电容C0
偏置上升过程中的电容值
偏压达到20V并且稳定之后的电容C1
计算从C0-C1之间的稳定时间Th。
常规的LCR数字电桥，由于测试速度限制，采样率无法达到几
乎实时采集，用TH2840系列双CPU，可实时观察变化过程并计算
出稳定时间。
TH2840X上位机 示波器实时抓获波形
电容测试 CH1: AD脉冲（黄色）
测试频率：1MHz CH2: DC BIAS 打开（绿色)
量程：100Ω CH4: DC BIAS 上升（红色）
上升瞬间波形 全部波形
C.强硬件配置
除了双CPU设计，TH2840系列也增强了其他硬件配置参数：
1. AC测试电平提升至20Vrms/100mA，同类产品仅TH2838H可达到，在测试C-V曲线时范围更广
2. DC偏置为±40V/±100mA，为同类产品*配置
3. 标配独立2A直流偏置电流源，为2A电流以内电感测试带来福音，支持外界TH1778A系列扩展至120A。
4. DCR测试电平提升至20V，测试mH级及以上电感更快速稳定。
D.改进的分选设置
针对以往LCR分选设置及参考设
置来回切换等过于复杂的操作，做出
了如下改进以便于客户使用及设置：
1. 合并标称值和参考值的设置
2. 由于直接采用了4参数测量及
分选，因此取消附属档、副参
数档。
E.增强的列表扫描功能 F.强大的分析图形界面
可设置4个测量参数，4个测量参数有独立开关，列表扫 4个扫描轨迹，1-4个测试参数任意选择，扫描曲线可以
描每个点的频率,电平,偏置,功能,延时都可以独立设置,满足了 一分屏、二分屏、四分屏。
大多数客户的需求。
G.10档分选及可编程HANDLER接口
仪器提供了10档分选，为客户产品质量分级提供了可 在与自动化设备连接时，怎么配置HANDLER接口
能，分选结果直接输出至HANDLER接口。 输出，一直是自动化客户的难题，TH2840系列LCR将
HANDLER接口脚位、输入输出方式、对应信号、应答方式
等完全可视化，让自动化连接更简单。
H.智能固件升级方式
仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等，都可以通过升级固件(Firmware)来进行更新，而无需返厂进行。
TH2840系列LCR数字电桥固件升级非常智能，可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行，智能搜索仪器内存、外接优盘
甚至是局域网内升级包，并自动进行升级。
I.选配附件
应用
■ 无源元件：
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和
网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
■ 半导体元件：
LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特
性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件：
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
■ 介质材料：
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料：
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料：
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的
介电常数、弹性常数等C-V特性
■ 各种传感器:
电子皮肤、振镜图像滤光阵列传感器
