磁力显微镜MFM

精工的磁力显微镜迄今为止是世界上可追踪文献报道的分辨率高的。 精工MFM具有Trace和的Active Trace两种工作模式，Active Trace探针可更接近样品表面进行非接触式磁力扫描。这种模式对测量极弱、极小磁畴非常有效。可实现目前世界上高的小于20nm的磁畴分辨能力。具有振幅控制和相位控制两种工作模式。具有可对硬磁和软磁多种磁性材料进行测量的功能。多种自制的磁性探针适合于不同应用的选择。