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LED的芯片其实就是个半导体，有如以下的IV曲线。反向电压如果加的过高，LED会因被击穿而损坏，所以很多时候我们需要去测量反向电压。若只是单纯要测量芯片的特性，基本上使用电源和万用表即可。主要可测试的项目包括正向电压、击穿电压、漏电流…测试LED的整体IV曲线特性几个参数正向电压:Vf击穿电压:Vr漏电流:IL这些项目的测试其实并不算困难，但必须要选对合适的测量仪器。若是选择了不适合的测量仪器，测试的值误差则会非常大。
A10VSO18DG
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A10VSO28DG
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A10VSO45DG
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A10VSO71DG
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为增大仪器可测量的范围（动态范围），绝大多数测量仪器都会设置多个量程，以满足不同情况下测量不同大小信号的需求。当使用大量程测试小信号时会有什么结果呢？很多人回答会造成误差增大，但往往说不上来原因，我们将会带大家深入讨论一下这样使用带来的影响和原因。许多人认为大量程可测量的范围很大，大小信号都可以兼顾，因此在很多情况下都优先选择较大的量程进行测量，或者不注意选择，直接默认设置，如此使用时，仪器测量的值依然能正常显示，看起来数值也似乎还算准确。
