SANKO山高 双型膜厚仪 SWT-NEO Ⅱ

SANKO山高 双型膜厚仪 SWT-NEO Ⅱ

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产品特点

可根据测量应用选择连接探头。

操作步骤在液晶显示屏上显示为指导。

大容量测量值存储器（NEO II：20,000点，NEO III：40,000点）。

通过校准曲线注册轻松调用测量

内置上下限值设置及统计计算功能。

数据可以通过 USB 连接传输到 PC。

内置特定低功耗无线输出（NEO-III）。

倾斜支架

 

产品规格

测量范围

取决于连接探头（单独出售）

显示方式

图形液晶显示屏

校准曲线校准

2点校准

校准曲线记忆

NEO-Ⅱ: 10
NEO-Ⅲ: 100

测量内存

NEO-Ⅱ：20,000点
NEO-Ⅲ：40,000点

数据传输

USB、低功率无线电 (NEO-III)

电源

AA 碱性电池 (1.5V) × 2 连续使用时间（25 小时*）
AC 适配器

自动断电功能
**值（可能因使用条件而异。）

工作温度

0 至 40°C（无冷凝）

机身尺寸

72(宽)×30(高)×156(深)毫米

重量

约200g（含电池）

SANKO山高 双型膜厚仪 SWT-NEO Ⅱ

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