SL-200E 紧凑型电磁模拟膜厚仪 SANKO山高
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产品特点
探头尺寸小，适合测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面等局部涂层厚度。
产品规格
测量范围
I：0～50μm II：0～500μm
测量精度
均匀表面上显示值的 ±1 μm 或 ±2%
电源
DC：AA 电池 (1.5V) x 8
AC：100V，50/60Hz（使用交流适配器）
工作温度
0 至 40°C（无冷凝）
机身尺寸
190(宽)×90(高)×120(深)毫米
重量
1.8公斤
配件
标准厚度板、AC适配器、肩包
探测
2极型，磁极直径φ2.5，极距5mm
尺寸：10(W)×17(H)×21(D)mm
SL-120C 宽测量型电磁模拟膜厚仪 玉崎供应
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SANKO山高 数字电磁膜厚计 SWT-NEO-F
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SANKO三高 带集成探头双型涂层测厚仪 SAMAC-Pro
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京都玉崎供应SL-120C 宽测量型电磁模拟膜厚仪 玉崎供应
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