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PID（PotentianInducedDegradation）是一种电势诱导衰减现象，是指组件长期在高电压下使得玻璃，封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池表面。使得电池表面的钝化效果恶化，导致填充因子（FF），短路电流（Isc），开路电压（Voc）降低，使得组件的性能低于设计标准，发电能力也随之下降。2010年，NREL和Solon证实了无论组件采取何种技术的P型晶硅电池，组件在负偏压下都有PID的风险。
A10VSO18DG
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CANopen是一种架构在控制局域网路（CAN）上的高层通讯协议，对其协议的学很多人都觉得有难度，看来看去都觉得是云里来雾里去的，本文将让CANOpne协议不再那么神秘，带你跨过CANOpen学道路的道门槛。应用CANopen时，需要传递的配置信息和应用信息都放在过程数据对象PDO（Processdata
）和服务数据对象SDO里面。
