HS PA30-E超声波相控阵检测仪

发布时间:2023-12-22

产品概述

HS PA30-E是一款全聚焦相控阵检测仪,支持64阵元全聚焦,能够满足更加复杂的相控阵检测需求,检测数据实时分析。       

可适配2组TOFD检测通道,支持双相控阵TOFD一体成像,可一次性扫查覆盖100mm厚度的焊缝。 



功能特点

支持64阵元实时TFM全聚焦扫查成像功能

支持多路视频显示信号输出到不同屏幕显示,并可操控反馈

聚焦法则可支持多组PA扫查方式,同时扫描成像

双轴编码器接口,支持二维腐蚀C扫和轮式探头检测

提供双TOFD通道功能,支持双相控阵TOFD一体成像(PAUT)

可扩展视频实时监控功能

具备双线阵(DLA)、双面阵(DMA)奥氏体不锈钢检测功能

支持高速网络传输,数据可实时上传下载




技术参数

参数分类

参数选项

相控阵通道

常规通道

PA/UT配置

接收/发射

32/128  32/64可选

4通道TOFD(2对一发一收)





脉冲发生器

脉冲电压

50V-100V连续可调

100V-350V连续可调

脉冲方式

负方波

负方波

脉冲宽度

30ns~500ns/2.5ns

30ns~500ns/2.5ns

脉冲上升时间

<8ns

<15ns

脉冲重复频率

200Hz -20KHz

200Hz -1KHz

延迟

0-20us/2.5ns

0-655us/10ns

发射阻抗

/

500/25Ω

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接收器

增益范围

0~80dB

0~110dB

系统带宽

0.5-20MHz

0.5-15MHz

接收延迟

50us/2.5ns

/



数据采集

采样率

100MHz/10bit

200MHz/10bit

A扫长度

8192

2048

聚焦模式

常规/动态/全范围

/

聚焦类型

深度、声程、水平

/

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扫描与显示

检波

全检波、正检波、负检波、射频

全检波、正检波、负检波、射频

扫描类型

扇扫/线扫/复合扫

/

显示模式

A/B/C/L/S/3D

A/B/C


可编程TCG

点的数量

32个

/

增益量

40 dB,步距为0.1 dB

/

增益斜率

40 dB/us

/

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数据存储

固态硬盘

256GB



显示器

尺寸

10.1"


分辨率

1280x800


触摸屏类型

电容式触摸屏




I/O接口

USB

USB3.0/ USB2.0


以太网

1000Mb/s


视频输出

HDMI


编码器

ODU-7PIN双路编码器


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语言


中文/英文



电源

直流供电电压

24V/3.75A


电池

11.1V-17Ah


连续工作时间

不低于4小时


整机重量

整机不带电池3.6kg,电池900g



整机尺寸

340mmx230mmx100mm








应用

板材、管材、焊缝的全聚焦相控阵检测

具备2×32双线阵、双面阵奥氏体不锈钢检测功能

更适用于较复杂的结构或材料的全聚焦相控阵检测,如PE管电、热熔焊、钢骨架PE管电熔焊、复合材料、TKY对接焊缝、法兰、叶片等

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