日本Pulstec帕路斯μ-X360n残余应力测试仪日本Pulstec新一代X射线残余应力测试仪μ-X360n-上海如庆电子科技有限公司-无损事业部
2012年日本Pulstec公司开发出世界*基于全二维探测器技术的新一代X射线残余应力测试仪——μ-X360n，将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度，设备推出不久便得到业界的广泛好评。由于其技术之*、测试数据可重复性之高、使用之便携，设备一经推出便备受业界青睐！ 近期，日本Pulstec公司*克服技术难点，发布了新的产品型号：μ-X360s，将全二维面探测器技术的产品设计和功能完善再次升级！上海如庆电子科技有限公司-无损事业部
残余应力直接影响金属制品的疲劳强度、抗应力、腐蚀能力、尺寸稳定性和使用寿命，因此在工业和军事等部门受到普遍重视。基于全二维探测器分析方法的新一代X射线残余应力测试仪不仅精度更高，而且不再需要测角仪、不再需要多个入射角才能完成测量、不再需要冷水机、不再需要外接供电电源，因此将极大改善了复杂形状部件检测、狭窄空间检测、野外工程现场检测、大面积部件检测等测量的难度，具有更广泛的应用。在实验室内，基于全二维探测器分析方法的世界Z小*轻的便携式X射线残余应力分析仪可以用来检测焊接处疲劳，齿轮，圆棒，角焊缝，机轴狭窄区，弹簧等；在户外工程中，它可以用来检测管道焊缝，油罐焊缝，除掉外层水泥的建筑内层，桥梁金属，高速铁轨等。
X射线残余应力测试仪实验室内轻松胜任各种部件检测
——快速、高精度、复杂形状全面分析
X射线残余应力测试仪户外工程现场原位残余应力应力检测
——变得如此简单
X射线残余应力测试仪额外选件：
1. 残留奥氏体分析
用于提供自动计算剩余奥氏体含量的软件分析功能；增加该功能后系统软件可以显示在室温下还没有转变的残余奥氏体百分比含量
2. XY扫描控制台
用于在平面内X方向和Y方向的调节探测器位置，对样品表面进行残余应力面扫描，每一个方向的量程是20cm，调节精度为1μm
3. 电解抛光装置
用电解抛光的方法去除金属的表面逐层获得下面金属的残余应力情况
4. 振荡单元装置
用于粗晶样品残余应力测试
5.用户自己换靶
用户可以自己更换X射线靶材以满足更广的测试材料需求，可换靶材包括：Cr，V，Cu，Co，Mn
