X荧光镀层测厚仪厂家

天瑞仪器股份有限公司生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售的一体型企业。公司于2011年1月25日在深圳创业板上市，成为分析测试仪器行业的一家上市公司。天瑞仪器是具有RoHS环保测试仪|RoHS2.0检测仪|邻苯测试仪|XRF|卤素仪|重金属测试仪|XRF|金属镀层测厚仪|金镍厚测试仪|金属元素分析仪|便携式测试仪|天瑞EDX1800B|天瑞镀层膜厚仪|天瑞EDX1800E|天瑞rohs测试天瑞ROHS有害元素分析仪|ROHS无卤元素分析仪|气相色谱|相色谱|子吸收光谱|X射线荧光光谱仪|光电直读光谱仪|ICP光谱仪|金属多元素分析仪|碳硫分析仪|X荧光测厚仪ROHS仪器、无卤分析仪、REACH分析仪、增塑剂检测仪等仪器的生产销售。 X荧光测厚仪镀层样品测试注意事项
先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序，天瑞XRF荧光测厚仪多可以测5层金属镀层厚度 。
通过对镀层基材的测定，确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质，比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的，并且同标准片底材元素含量不一致的，则需要进行基材修正，选用样品所相似的底材进行曲线 。

 X荧光测厚仪特点
1.上照式
2.高分辨率探測器
3.鼠位测试点
4.测试组件可升降
5.可视化操作
6良好的射线屛蔽
7.高格度移动平台
8.自动定位高度
9.大样品腔
10 .小孔准直器
11.自动寻找光斑
12.测试防护

应用优势
 X荧光测厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；
软件可分析5层25种元素镀层；
通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；
内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。

 X荧光测厚仪产品特点
样品处理方法简单或无前处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备可靠、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务保证