可变角度探头​5P10*16 0°～90°

可变角度探头5P10*16  0°～90°，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从0度到90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。

可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从0度到90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。

可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从0度到90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。

可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从0度到90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。

可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从0度到90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。

可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从0度到90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。