X射线测厚仪

发布时间:2017-09-07

X射线测厚仪

深圳(江苏)天瑞仪器股份有限公司研制X射线无损测厚仪thick800a主要用于电镀层厚度检测,高精度,快速简便。Thick800A是我公司研制的即使在客户遇到严格的测试要求时也能够实现测厚精度。仪器操作快速、方便,高效,配备移动平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加。

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镀层测厚仪

性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
    小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
    高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

快速、无损的分析

成份分析多可达25种元素

同时可多分析5层

基于基本参数法的镀层和成份分析方法

仅需一根USB线与电脑连接

快捷的面板控制按钮

占用空间小、轻量化设计 

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金属镀层测厚仪

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层 
一次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高

工作环境:
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg

x射线镀层测厚仪产品检测实例

镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试,其测试位置如图



x射线镀层测厚仪产品可以对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否标。天瑞仪器thick800a核心部件:

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x射线镀层测厚仪为什么选择天瑞thick800a
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

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深圳天瑞仪器有限公司
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