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延迟块探头
可更换延迟块探头是一种单晶接触式探头，专门与可更换的延迟块一起使用。
优势
• 强阻尼探头加上延迟块可以提供的近场分辨率。
• 较高的探头频率提高了分辨率。
• 直接接触法可提高测量薄材料及发现细小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，适用于曲面工件。
应用
• 测厚。
• 垂直声束缺陷探测。
• 对接触区域有限的工件进行检测。
可更换延迟块探头
• 每个探头的配置都带有一个标准延迟块和 一个固定环。
• 备有高温延迟块和干耦合延迟块。
• 探头及延迟块端部之间需要耦合剂。
|
频率 |
标称 晶片尺寸 |
探头 工件编号 |
|
|
MHz |
英寸 |
毫米 |
|
|
2.25 |
0.25 |
6 |
V204-RM |
|
5 |
0.50 |
13 |
V206-RM |
|
0.25 |
6 |
V201-RM |
|
|
10 |
0.25 |
6 |
V202-RM |
|
0.125 |
3 |
V203-RM |
|
|
15 |
0.25 |
6 |
V205-RM |
|
20 |
0.125 |
3 |
V208-RM |
Sonopen可更换延迟块探头
装有弹簧的支架SLH-V260-SM* *仅与V260-SM一起使用。
• 聚焦的可更换延迟块。
• 直径极小的特点可以提高在曲面及小缺口上的检测性 能。
• 手柄可以方便探头头部的定位。
|
频率 |
标称 晶片尺寸 |
探头 工件编号 |
|||
|
MHz |
英寸 |
毫米 |
平直手柄 |
直角手柄 |
45°手柄 |
|
15 |
0.125 |
3 |
V260-SM |
V260-RM |
V260-45 |
可更换延迟块探头选项
|
标准 晶片尺寸 |
标称 延迟块 |
高温 |
干耦合 延迟块 |
备用 固定环 |
带有弹簧的 支架 |
||||
|
高175°C (350°F) |
高260°C (500°F) |
高480°C (900°F) |
|||||||
|
英寸 |
毫米 |
||||||||
|
0.50 |
13 |
DLH-2 |
DLHT-201 |
DLHT-2 |
DLHT-2G |
DLS-2 |
DRR-2 |
2130 |
|
|
0.25 |
6 |
DLH-1 |
DLHT-101 |
DLHT-1 |
DLHT-1G |
DLS-1 |
DRR-1 |
2127 & DRR-1H |
|
|
0.125 |
3 |
DLH-3 |
DLHT-301 |
DLHT-3 |
DLHT-3G |
DLS-3 |
DRR-3 |
2133 & DRR-3H |
|
* 高温延迟块可在温度高达175°C（350°F）的情况下使用。
|
Sonopen可更换延迟块 |
||
|
直径 |
工件编号 |
|
|
英寸 |
毫米 |
|
|
0.080 |
2.0 |
DLP-3 |
|
0.060 |
1.5 |
DLP-302 |
|
0.080 |
2.0 |
DLP-301* |
带有手柄组合件的延迟块探头
这些探头用于伸到空间极其狭小的区域进行探测，如： 相距很近的涡轮叶片。探头可旋转的头部提高了 其在狭小区域接触被测工件的能力。
|
频率 |
标称 晶片尺寸 |
延迟块长度 |
探头工件编号 |
|
|
MHz |
英寸 |
毫米 |
微秒 |
|
|
20 |
0.125 |
3 |
1.5 |
M2054 |
|
20 |
0.125 |
3 |
4.5 |
M2055 |
|
20 |
0.125 |
3 |
4 |
V2034 |
