测量局部涂层厚度的膜厚计SL-200E

测量局部涂层厚度的膜厚计SL-200E

测量局部涂层厚度的膜厚计SL-200E

测量局部涂层厚度的膜厚计SL-200E

深圳市京都玉崎电子有限公司

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探头较小，适用于测量局部涂层的厚度，如扁平，弯曲到圆棒，零件，复杂形状，内侧等。
产品规格
测量范围：0〜50μm：0〜500μm
测量精度在均匀表面±1μm或指示值的±2％
探头2电极型，磁极直径φ2.5，极间间距5 mm
尺寸：10（W）×17（H）×21（D）mm
电源DC：AA电池（1.5 V）x 8
AC：100 V，50/60 Hz（AC适配器使用）
工作温度0〜40°C（非冷凝）
尺寸重量190（W）×90（H）×120（D）mm，1.8kg
配件标准厚板，AC适配器，肩套

SANKO山高型号大全：

膜厚计、测定器

膜厚计-电磁式，涡流式

SWT-9000，SWT-9100，SWT-9200，SWT-9300，SAMAC-FN，SAMAC-Pro

膜厚计-电磁式

CTR-2000 III，TL-50，SM-Pen，SWT-9000F，SAMAC-F，SP-3300D，Pro-1，Pro-2，SL-120C，SL-200E

膜厚计-涡流式

SWT-9000N

超声波膜厚计

ULT-5000，UDM-550V，SF-1150，

探头-电磁感应式

Fe-2.5，Fe-2.5L，Fe-2.5LwA，Fe-10，Fe-0.6，Fe-20，Fe-0.6Pen，SL-5P

探头-涡流式

NFe-2.0，NFe-2.0L，NFe-0.6，NFe-8，FN-325

膜厚计

318/318S，

SANKO山高粒度计232，

表面盐分计

SNA-3000，

光泽计

SG-6，SG-268

环境监测计SE-250，SE-250D