TSY-35型塑料薄膜和薄片测厚仪
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一、简介
薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试，还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测试、纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。
二、技术参数
1、分度值0.001mm量程0-1mm
2、上下测量面为平面时，测量面对试样施加的负荷为0.5N到1.0N之间。
3、上下测量面为凸/平面时，上测量面的曲率半径在15-50(mm)时，其测量面对试样施加的负荷为0.1N-0.5N之间。
4、测量精度
100μm以内 精度1μm
100μm到250μm精度2μm
250μm以上 精度3μm
三．使用方法：
1.测试前先把千分表清零，并拨动操纵杆试几次回零后，再进行测试。操作时轻抬轻放以免损坏测足及仪表。
2．用手指按下操纵杆使测足上抬，将被测物置于工作台、测足之间。轻放操纵杆，此时表的读数即被测物的厚度，
3.使用完毕后将仪器装入盒内并置于干燥处防止受潮。
联系人:张丽
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