热烈庆祝上海衡翼精密仪器有限公司生产的HY(IC)IC卡动态弯扭试验机交付到上海伯乐电子有限公司使用。
HY(IC)IC卡动态弯扭试验机技 术 参 数:
本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期：1~9999次
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，扭曲角度30°
长边大位移量为20mm(+0.00mm-1 mm)
长边小位移量为2mm±0.50mm，
短边大位移量为10mm(+0.00mm-1 mm)
长边小位移量为1mm±0.50mm，
夹具安装尺寸完全按照标准执行。
3、产品用途：
用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。
