，日本SANKO膜厚计.SL-200E,关联测定器,YUQIF
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山高（SANKO）电子研究所自1963年（昭和38年）创立以来，为了满足客户的需求，公司一直致力于膜厚计，检针器，水分计，微孔检测仪等检测仪器的研发，生产和销售，并建立了完善的售后服务体制。
测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)
原理分类
测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为:
1、接触式测厚仪
接触面积大小划分:
点接触式测厚仪
面接触时测厚仪
2、非接触式测厚仪
非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种:
激光测厚仪
超声波测厚仪
涂层测厚仪
X射线测厚仪
白光干涉测厚仪
电解式测厚仪
管厚规
主要类型
激光测厚仪:是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
X射线测厚仪:利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.
纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。
X射线测厚仪:适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料(如钢铁、镍)表面上的非导磁覆盖层厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等)。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。
涂层测厚仪:采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。
涂层测厚仪具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);
设有五个统计量:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法:适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。
5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，适用于一些特殊场合。
国内目前使用为普遍的是第1/2两种方法。
激光测厚仪:
板材(钢坯)激光厚度检测系统具有无辐射、成本低、便于维护等特点，激光测厚仪是通过采用激光检测技术及可靠的防护措施研制而成的，完全满足热轧板坯厚度检测的需求。
激光测厚仪是基于三角测距原理，使用集成式的三角测距传感器测量出从安装支架到物体表面的距离，进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。
激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化，进而可计算出被测物体的实际移动距离。
纸张薄膜测厚仪:
采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
非接触式纸张测厚仪:
英国真尚有公司研发的测厚仪使用了新的非接触式测量方法，可以实现对纸张的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。测量精度达到微米级，是目前精度高的测厚仪，并且可以在线测量。实现生产自动化的闭环控制。
非接触式测厚仪的测量原理:使用两个纸张厚度传感器安装在被测物(纸张)上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标被测物体的厚度值。非接触式纸张测厚仪同样可以测量其他薄膜类、片材类物体的厚度。
磁性测厚仪:
磁性测厚仪一体式仪器结构，可以单手操作。它采用电磁感应原理，适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，可以测量钢铁上的各种电镀(镀镍除外)、涂层、珐琅、塑料等覆盖层厚度，还可用于测量各种金属箔(如铜箔、铝箔、金箔等)和非金属薄膜(如纸张、塑料等)的厚度。本仪器可用于生产检验、验收检验及质量检验。符合标准。
涡流测厚仪:
涡流测厚仪是一种小型仪器，采用涡电流测量原理，可以方便无损地测量有色金属基体上的油漆、塑料、橡胶等涂层，或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。
涡流测量原理是高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。
单用测厚仪:
采用磁性测厚方法，可无损伤地检测磁性金属基铁(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如:锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。单用测厚仪广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护的仪器。符合GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量。便携设计，手掌大小，采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力;天津市精科材料试验机厂是生产油漆、涂料、油墨设备材料试验机及涂料行业试验室设备的大型企业。人性化设计，简单操作。在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质，无需手动转换，两种校准方式，零点校准和二点校准，宽角度LCD液晶显示，公制和英制单位转换，具有电源欠电压提示，操作过程有蜂鸣声提示，具有自动关机功能。
膜厚计、测定器
膜厚计-电磁式，涡流式
SWT-9000，SWT-9100，SWT-9200，SWT-9300，SAMAC-FN，SAMAC-Pro
膜厚计-电磁式
CTR-2000 III，TL-50，SM-Pen，SWT-9000F，SAMAC-F，SP-3300D，Pro-1，Pro-2，SL-120C，SL-200E
膜厚计-涡流式
SWT-9000N
超声波膜厚计
ULT-5000，UDM-550V，SF-1150，
探头-电磁感应式
Fe-2.5，Fe-2.5L，Fe-2.5LwA，Fe-10，Fe-0.6，Fe-20，Fe-0.6Pen，SL-5P
探头-涡流式
NFe-2.0，NFe-2.0L，NFe-0.6，NFe-8，FN-325
膜厚计
318/318S，
SANKO山高粒度计232，
表面盐分计
SNA-3000，
光泽计
SG-6，SG-268
环境监测计SE-250，SE-250D
代理
光源部：EYE岩崎、SEN日森、USHIO牛尾、REVOX莱宝克斯、CCS希希爱视、SERIC索莱克、TOPCON拓普康、NDK电色、ORIHARA折原、LUCEO鲁机欧、FUNATECH船越龙、SAKAZUME坂诘电子、HIKARIYA光屋、KKIMAC、DNP大日本科研
计测部：NEWKON新光、SANKO三高、SAKAGUCHI坂口电热、OKANO冈野、ONOSOKKI小野、TOKYO DENSHOKU东京电色、NDK日本电色、MITUTOYO三丰、PEACOCK孔雀、KYOWA共和
科仪部：EYELA东京理化、DRY-CABI德瑞卡比、T&D天特、ASKER高分子计器、KUSANO草野科学、IMV艾目微，AND爱安得、OBISHI大菱、TAKASAGO高砂、ASONE亚速旺、ELMEX安科生物、SAKURAI樱井、NS日本精密科学、SONIC索尼克、SIBATA柴田、SANSYO三商、HEIDON新东
