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广州日横电子科技有限公司长期现货供应日本日置 KIOKI ，C测试仪3504-60 HIOKI 日本日置，谢小姐 ，， QQ：1679708890 微信：2530533819
多层陶瓷电容器（MLCC）分为根据测量电压而电容变化的高介电常数型以及不会变化的温度补偿型。规定电容时的测量条件分别按照温度补偿性、高介电常数型的JIS标准来规定。
测量条件的设置例
| 参数 | 大容量的被测物为Cs-D，小容量的被测物为Cp-D |
|---|---|
| 频率 | 请参考下表 |
| 直流偏压 | OFF |
| 信号电平 | 额定电压以下 |
| 测量量程 | AUTO |
| 速度 | SLOW2 |
| LowZ模式 | OFF |
※其他为初始设置。
※这是测量范例。由于适合的条件根据被测物不同会有差异，因此请使用者自行决定。
JIS C5101-21用于表面贴装的定瓷电容器种类1 温度补偿型（CH、C0G等）（IEC30384-21）
| 参数 | 额定静电容量 | 额定电压 | 测试频率 | 测试电压※1 | 直流偏压 |
|---|---|---|---|---|---|
| C，D（tan δ） | C≤1000pF | 全部 |
1MHz或100kHz （标准1MHz） |
5Vrms以下 | 无 |
| C>1000pF |
kHz或100kHz （标准1kHz） |
JIS C5101-22用于表面贴装的定瓷电容器种类2 高介电常数型（B、X5R等）（IEC30384-22）
| 参数 | 额定静电容量 | 额定电压 | 测试频率 | 测试电压※1 | 直流偏压 |
|---|---|---|---|---|---|
| C，D（tan δ） | C≤1000pF | 全部 | 1MHz | 1.0±0.2Vrms | 无 |
1000pF|
过6.3V
|
1KHz
|
1.0±0.2Vrms
|
| ||
| 6.3V以下 | 1KHz | 0.5±0.2Vrms | |||
| C>10uF | 全部 | 100Hz或120Hz | 0.5±0.2Vrms |
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是通过输出电阻和测试样品对开路端子电压进行分压的电压。
※2测试电压（=外加在测试样品上的电压）可以通过开路端子电压、输出电阻、测试样品的阻抗进行计算。
※3 测试样品的阻抗不确定时或测量偏差较大的多个测试样品时使用CV模式更方便。
关于高介电常数型的电容
温度特性表示为B、X5R、X7R等的电容中使用了介电常数较高的材料。
高介电常数型的电阻不仅能够实现小型大容量，而且还具有容量根据测试电压和温度变化较大的特点。
测量仪器的介绍
适用于生产线
| 型号 | 测量频率 | 产品特点 |
|---|---|---|
| 3504-40 | 120Hz，1kHz |
适合用于大容量电容测量 通过恒压回路进行高速CV测量 |
| 3504-50 | ||
| 3504-60 | ||
| 3506-10 | 1kHz，1MHz |
适用于小容量电容测量 重复精度高 |
适用于研发、验货等
| 型号 | 测量频率 | 产品特点 |
|---|---|---|
| IM3570 | DC，4Hz~5MHz |
分析模式下进行扫频 |
参数（Cs和Cp）的确定方法
各频率下的阻抗的大致标准（D较小时）
电容的等效电路
大容量的电容：因为C的阻抗较低，所以可以忽略Rp。设为串联等效电路。
小容量的电容：因为C的阻抗较高，所以可以忽略Rs。设为并联等效电路。
一般来说，测量如大容量电容这类低阻抗元件（约100Ω以下）时，使用串联等效电路模式，测量如小容量电容这类高阻抗元件（约10kΩ以上）时，使用并联等效电路模式。约100Ω～10kΩ的阻抗等等效电路模式不确定时，请和元器件的制造商进行确认。
实际的电容如图所示串联的Rs、并联的Rp连接到理想电容C进行工作。通常Rp会非常大（MΩ以上），Rs会非常小（几Ω以下）。理想电容的电抗可以通过电容和频率，按照Xc＝1/j 2πf C[Ω]来计算。Xc较小时，Rp和C并联的阻抗≒Xc。另一方面，Xc较小的话，则不能忽略Rs，因此整体上可以视作Xc和Rs的串联等效电路。Xc较大时则相反，不能忽略Rp，但可以忽略Rs，这样就变成了并联等效电路。
开路电压（V）模式和恒压（CV）模式的区别
开路电压是指测试样品没有进行连接时Hc端子产生的电压。将开路电压用输出电阻和测试样品分压后的电压外加在测试样品上。
恒压（CV）模式下设置测试样品两端的电压。使用IM35xx读取电压的监视值，软件上反馈后作为CV。使用3504-xx的话在硬件（模拟电路）上设置CV，因此可以高速进行恒压测量。3506-10虽然仅有开路电压（V）模式，但是因为输出电阻较小（1kHz的2.2uF量程以上为1Ω，除此以外的条件下为20Ω），所以相比其他机型，具备开路端子电压≒测试电压的测试样品的阻抗低的特点。
规定电解电容器的电容时的测量条件是按照JIS标准来定的。电容器厂家的公称值是符合JIS标准的测量值。但是，电解电容器的静电容量值根据测量频率的不同有较大差异，因此也用符合实际使用回路条件的频率确认电容值。
在和电容测量相同条件下测量基于电解电容器的内部电极部分的电阻和电解质电阻等的等效串联电阻（ESR）或损耗角正切ð（tanð）。
测量条件的设置范例：
| 参数 | Cs-D-Rs |
|---|---|
| 频率 | 120Hz以及实际使用的回路的频率 |
| 直流偏压 | ON 1.0V |
| 信号电平 | 0.5Vrms |
| 测量量程 | AUTO |
| 速度 | SLOW2 |
| LowZ模式 | ON |
※其他为初始设置。
※这是测量范例。适合的条件根据被测物而异，请使用者自行决定。
JIS C5101-4铝固体（Mn02）和非固体电解电容器 （IEC 60384-4）
| 参数 | 额定静电容量 | 额定电压 | 测试频率 | 测试电压※1 | 直流偏压※2 |
|---|---|---|---|---|---|
|
C，D（tan δ） Rs（ESR） |
全部 | 全部 | 100Hz 或 120Hz | 5Vrms以下 | 0.7~1.0V |
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是使用输出电阻和测试样品将开路端子电压分压后的电压。
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）能够通过开路端子电压、输出电阻和测试样品的阻抗进行计算。
※2 可省略外加直流偏压。
低阻抗高精度模式：
低阻抗高精度模式下输出电阻下降、测试电流增加，而重复测量精度提高。若测量过100μF这类大电容（低阻抗）的电容，就能够更加稳定的进行测量。下图是使用IM3570，分别在低阻抗高精度模式ON/OFF下比较重复精度的结果。（100kHz、1Ω量程、1V）
※低阻抗高精度模式有效的条件根据机型而异。请参照各机型的使用说明书。
重复测量约100mΩ的电阻
测试仪器的介绍：
针对生产线
| 型号 | 测量频率 | 产品特点 |
|---|---|---|
| IM3523 | DC，40Hz~200kHz |
测量时间2ms、高 |
| IM3533 | DC，1mHz~200kHz |
内部直流偏压功能、触摸屏 |
针对研发、验货
| 型号 | 测量频率 | 产品特点 |
|---|---|---|
| IM3570 | DC，4Hz~5MHz | 分析模式下扫频功能 |
| IM9000 | IM3570选件：等效电路分析软件 | |
| IM3590 | DC，1mHz~200kHz | 使用等效电路分析功能可分开测量ESR和ESL |
关于等效串联电阻（ESR）和损耗系数D（tanδ）
电解电容器的普通等效电路如下图所示。
这里低频（50Hz～1kHz）的话则基于等效串联电感L的电抗（XL）非常之小，可以看做0，这时的各元件的电阻成分、电抗成分在复平面中变为下图所示的矢量关系。
电容器的理想状态是R=0、损耗系数D=0，但是实际上电解电容器的话，存在电极箔的电阻、电解质的电阻、引线的电阻以及各部分的连接电阻等各种电阻成分，因此等效串联电阻ESR或损耗系数D（tanδ）是评价电解电容器好坏的指标。
使用IM3533或IM3536可以同时测量并显示4种参数，因此如显示范例可作为电解电容器的评价标准，同时确认电抗X、静电容量C、等效串联电阻Rs、损耗系数D。
重复测量约100mΩ的电阻
矢量图
IM3536的显示范例
直流偏压功能
电解电容器分为普通有极性型和两极性型。有极性型根据需要加上直流偏压，而不在电容器上加反向电压。
由于IM3533或IM3536有内部直流偏压功能，因此无需准备外部直流电源即可直接外加直流偏压。
Cs和Cp的确定方法
一般来说，测量大容量的电容器这种低阻抗元件（约100Ω以下）时使用串联等效电路模式，而测量小容量的电容器这种高阻抗元件（约10kΩ以上）时使用并联等效电路模式。在无法确定约100Ω～10kΩ的阻抗等的等效电路模式时，请和元件厂家进行确认。
钽电容是阳极使用金属钽的一种电解电容器。和其他电容器相比体积小但电容大，和陶瓷电容器这类大容量产品相比，具备电压、温度特性好的特点。测量条件由JIS标准而定，测量静电容量C、等效串联电阻Rs（ESR）、损耗角正切ð（tanδ）和阻抗Z。
测量条件的设置范例
| 参数 | Cs-D（120Hz）、Rs（100kHz） |
|---|---|
| 频率 | 120Hz、100kHz |
| 直流偏压 | OFF |
| 信号电平 | 0.5Vrms |
| 测量量程 | AUTO |
| 速度 | SLOW2 |
| LowZ模式 | ON |
※其他为初始设置。
※这是测量范例。适合的条件根据被测物而异，请使用者自行决定。
JIS C5101-3用于表面贴装的固定钽固体（MnO 2）电解电容器
（IEC 60384-3）
| 参数 | 额定静电容量 | 额定电压 | 测试频率 | 测试电压※1 | 直流偏压※2 |
|---|---|---|---|---|---|
| C，D（tan δ） | 全部 | 全部 | 100Hz 或 120Hz | 0.5Vrms以下 | 0.7~1.0V |
| Rs（ESR）、Z | 全部 | 全部 | 100kHz | 0.5Vrms以下 | 0.7~1.0V |
JIS C5101-15固定钽非固体或固体电解电容器
（IEC 60384-15）
| 参数 |
额定电压 额定静电容量 |
测试频率 | 测试电压※1 | 直流偏压※2 |
|---|---|---|---|---|
| C，D（tan δ） | 全部 | 100Hz 或 120Hz | 0.1Vp~1.0Vp | 2.1~2.5V※3 |
| Rs（ESR）、Z | 全部 | 在100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz、1MHz中选择能得到低阻抗值的频率 | 0.1Vp~1.0Vp | 2.1~2.5V※4 |
JIS C5101-24用于表面贴装的固定钽固体（导电性高分子）电解电容器
（IEC 60384-24）
| 参数 | 额定静电容量 | 额定电压 | 测试频率 | 测试电压※1 | 直流偏压※2 |
|---|---|---|---|---|---|
| C，D（tan δ） | 全部 | 2.5V以下 | 100Hz 或 120Hz | 0.5Vrms以下 | 1.1~1.5V |
| 过2.5V | 1.5~2.0V | ||||
| Rs（ESR）、Z | 全部 | 全部 | 100kHz | 0.5Vrms以下 | 无 |
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是使用输出电阻和测试样品将开路端子电压分压后的电压。
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）能够通过开路端子电压、输出电阻和测试样品的阻抗进行计算。
※2 可省略外加直流偏压。
※3 双极性电容器不外加直流偏压。
※4 仅在测试电压0.5Vp以上时外加。
Cs和Cp的确定方法
一般来说，测量大容量的电容器这种低阻抗元件（约100Ω以下）时使用串联等效电路模式，而测量小容量的电容器这种高阻抗元件（约10kΩ以上）时使用并联等效电路模式。在无法确定约100Ω～10kΩ的阻抗等的等效电路模式时，请和元件厂家进行确认。
测试仪器的介绍：
针对生产线
| 型号 | 测量频率 | 产品特点 |
|---|---|---|
| IM3523 | DC，40Hz~200kHz |
测量时间2ms，Cs-D/ESR连续测量 |
| IM3533 | DC，1mHz~200kHz |
测量时间2ms，Cs-D/ESR连续测量，触摸屏 |
针对研发、验货
| 型号 | 测量频率 | 产品特点 |
|---|---|---|
| IM3570 | DC，4Hz~5MHz | 分析模式下扫频功能 |
| IM9000 | IM3570选件：等效电路分析软件 | |
| IM3590 | DC，1mHz~200kHz | 使用等效电路分析功能可分开测量ESR和ESL |
4端子对法：
在测试样品Zx的附近若连接彼此的屏蔽层，则测试电流会通过屏蔽层返回来。这个返回屏蔽层的电流所产生的磁通量和测试电流I所产生的磁通量相抵消，因此特别是在低阻抗的测量中能够降低测量误差。（IM35xx）
连续测量模式：
IM35xx系列的连续测量功能在不同设置条件（频率、电平）下连续测量不同的设置项目。
如下例所示，连续测量Cs-D测量（120Hz）和ESR测量（100kHz）
导电性高分子电容器和铝电解电容器相比，具备ESR（等效串联电阻）较低、温度变化时较稳定的特性。而且，相对直流偏压的静电容量的稳定性也非常出众。测量条件根据JIS标准C5101-25-1而定，测量等效串联电阻（ESR）和损耗角正切ð（tanð）。
测量条件的设置范例
| 参数 | Cs-D（120Hz）、Rs（100kHz） |
|---|---|
| 频率 | 120Hz、100kHz |
| 直流偏压 | ON 1.5V |
| 信号电平 | 0.5Vrms |
| 测量量程 | AUTO |
| 速度 | SLOW2 |
| LowZ模式 | ON |
※其他为初始设置。
※这是测量范例。适合的条件根据被测物而异，请使用者自行决定。
JIS C5101-25-1用于表面贴装的固定铝固体（导电性高分子）电解电容器
（IEC 60384-25-1）
| 参数 | 额定静电容量 | 额定电压 | 测试频率 | 测试电压※1 | 直流偏压※2 |
|---|---|---|---|---|---|
| C，D（tan δ） | 全部 | 2.5V以下 | 120Hz | 0.5Vrms以下 | 1.1~1.5V |
| 过2.5V | 1.5~2.0V | ||||
| Rs（ESR） | 全部 | 全部 | 100kHz±10kHz | 0.5Vrms以下 | OFF |
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是使用输出电阻和测试样品将开路端子电压分压后的电压。
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）能够通过开路端子电压、输出电阻和测试样品的阻抗进行计算。
※2 可省略外加直流偏压。
低阻抗高精度模式：
低阻抗高精度模式下输出电阻下降、测试电流增加，而重复测量精度提高。若测量过100μF这类大容量（低阻抗）的电容，就能够更加稳定的进行测量。下图是使用IM3570，分别在低阻抗高精度模式ON/OFF下比较重复精度的结果。（100kHz、1Ω量程、1V）
※低阻抗高精度模式有效的条件根据机型而异。请参照各机型的使用说明书。
测试仪器的介绍：
针对生产线
| 型号 | 测量频率 | 产品特点 |
|---|---|---|
| IM3523 | DC，40Hz~200kHz | 测量时间2ms、高 |
| IM3533 | DC，1mHz~200kHz | 内部直流偏压功能、触摸屏 |
针对研发、验货
| 型号 | 测量频率 | 产品特点 |
|---|---|---|
| IM3570 | DC，4Hz~5MHz | 分析模式下扫频功能 |
| IM9000 | IM3570选件：等效电路分析软件 | |
| IM3590 | DC，1mHz~200kHz | 使用等效电路分析功能可分开测量ESR和ESL |
等效电路分析功能：
通过等效电路分析功能，可以单独分析构成元件的L、C、R的各要素。
在下图中，使用IM3570+IM9000测量导电性高分子电容器的ESR和ESL。
连续测量模式：
IM35xx系列的连续测量功能在不同设置条件（频率、电平）下连续测量不同的设置项目。
如下例所示，连续测量Cs-D测量（120Hz）和ESR测量（100kHz）
线圈分为空心（当中为空气或者非磁性材料）的和当中使用铁氧体等磁性材料（=高导磁率材料）的。带磁芯的电感中具有电流依赖性。
测量条件的设置范例
| 参数 | Ls，Q，Rdc |
|---|---|
| 频率 | 自谐振频率以下 |
| 直流偏压 | OFF（如果ON则无法测量） |
| 信号电平 | CC（恒流）模式，额定电流以下 |
| 测量量程 | AUTO |
| 速度 | SLOW2 |
| LowZ模式 | ON |
※其他为初始设置。
※这是测量范例。适合的条件根据被测物而异，请使用者自行决定。
关于测量频率的设置
线圈（感应器）具备的电感和线圈的寄生电容中的LC共振现象被称为自谐振。另外，产生这种自谐振的频率被称为自谐振频率。评估线圈时，请使用比自谐振还要低很多的频率测量L和Q。
线圈的阻抗可通过Z=j2πfL进行计算，频率越高则阻抗越高。改变频率进行测量时，若将测量量程设定为AUTO能够更加高效的进行测量。为了更加高精度的进行测量，并能在精度好的量程下测量阻抗，请设置合适的频率。
关于测量信号电平的设置
测量电流可通过开路电子电压和输出阻抗、被测物的阻抗计算得出。设置测量电压时注意不要让额定电流过。
测量有电流依赖性的线圈（=磁芯）时，请设置磁性材料不会饱和的信号电平。如果是没有电流依赖性的线圈，则设置精度好的信号电平。如果是IM35xx系列，则V模式的1V位优设置。如果是IM758x系列，以DUT端口50Ω终端时的功劳来规定测量信号电平，因此好的精度设置为+1dBm。
测量带磁芯的线圈或额定电流较小的线圈等情况时，用IM35xx可设的CC（恒流）模式为方便。用软件控制使测量电流恒定。
测试仪器的介绍：
针对生产线
| 型号 | 测量频率 | 产品特点 |
|---|---|---|
| IM3533 | DC，40Hz~200kHz | 带Rdc的温度补偿功能 |
| IM3536 | DC，4Hz~8MHz | 标准机型，高速、高稳定性、价格实惠 |
| IM7581 | 100kHz~300MHz | 针对高频、高速测量线圈 |
针对研发、验货
| 型号 | 测量频率 | 产品特点 |
|---|---|---|
| IM3570 | DC，4Hz~5MHz | 分析模式下扫频功能 |
Ls和Lp的确定方法：
一般来说，测量大容量的电容器这种低阻抗元件（约100Ω以下）时使用串联等效电路模式，而测量小容量的电容器这种高阻抗元件（约10kΩ以上）时使用并联等效电路模式。在无法确定约100Ω～10kΩ的阻抗等的等效电路模式时，请和元件厂家进行确认。
电感器如图所示，理想电感器L和绕组的铜损Rs、磁芯的铁损Rp联动。理想的线圈的电抗XL可以通过XL＝j2πfL进行计算。因为根据Rs和Rp的大小而定所以不能一概而论，低电感的线圈XL较小，所以可以认为Rp和L并联的阻抗≒XL。另外一方面，因为Ls较小所以不能忽略Rs，因此是串联等效电路。高电感则相反，不能忽略Rp而可以忽略Rs，因此是并联等效电路。
线圈中流过的电流：
线圈中流过的电流可以通过开路端子电压、输出阻抗、被测物的阻抗来计算。
※1 输出阻抗根据机型或是否为有效的低阻抗高精度模式而异。请参考使用说明书中记载的产品参数部分。
关于Rdc测量：
线圈的评价中测量L、Q、Rdc。IM3533或IM3536等机型1台即可测量L、Q、Rdc。使用交流信号测量了L和Q之后，再使用直流信号测量Rdc。
※并不是Rs、Rp=Rdc。Rs和Rp是使用交流测量的电阻。Rs和Rp包含会由于磁芯的损耗、趋肤效应、邻近效应而增加的绕组电阻。
绕组材料的温度系数较大的话，则Rdc会根据温度的变化而变化。IM3533带有Rdc的温度补偿功能。
关于直流叠加特性：
直流叠加特性是线圈的特性。表示的是相对直流电流电感降低的情况，因此对用于如电源回路这类流过大电流的回路的线圈来说是重要的评价项目。
我司的LCR测试仪中内置的直流偏压施加功能用于测量电容器，不能流过直流电流。为了叠加直流电流，请使用DC偏置电流单元9269（或9269-01）和外部电源，或者自己制作回路。
※DC偏置电流叠加回路请参考各LCR测试仪使用说明书后方的附录页。
延迟时间的设置方法：
LCR测试仪的Rdc测量为了减少测量误差，将发生电压ON/OFF后取消主机内部的偏移。（DC调整功能）。
电感器上的施加电压进行切换时，输出电阻和电感器的等效串联电阻、电感会引发瞬态现象。Rdc测量时为了不受到瞬态现象的影响请设置足够长的延迟时间。延迟时间的名称和测量时序根据机型而异。请参考各机型的使用说明书。 若不确定适合的延迟时间，请尽量将延迟时间设置得久一点。请在这时的测量值不会变化的范围内慢慢的缩短延迟值。
概要：
DC，4Hz~8MHz测量频率，今后的产品
测量频率DC，4Hz~8MHz
测量时间：快1ms
基本精度：±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
可内部发生DC偏压测量
从研发到生产线活跃在各种领域中
| 测量模式 | LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量） |
|---|---|
|
测量参数 |
Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
| 测量量程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定） |
| 显示范围 | Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
| 基本精度 | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ） |
| 测量频率 | 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) |
| 测量信号电平 |
[V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V) [直流电阻测量]: 1 V固定 |
| DC偏压 | 发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) |
| 输出阻抗 | 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，触摸屏 |
| 功能 | 比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
| 体积及重量 | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
| 附件 | 电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1 |
※使用9268-10或9269-10时需要外接的恒压源、恒流源。
直接连接型，底部有电极SMD用，DC～8MHz，可测量样品尺寸：0402～1005（JIS）
DC~200kH，50 Ω，1 m长
线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
DC～8 MHz, 直接连接型
直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
直接连接型，40Hz~8MHz，大外加电压DC±40V
直接连接型，40Hz~2MHz，大外加电流DC 2A(大外加电压DC±40V)
线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
用于更换L2001的前端的通用尺寸，L2001标配
用于更换L2001的前端的小型尺寸
DC~5MHz，1m长
线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
广州日横电子科技有限公司长期现货供应日本日置 KIOKI ，C测试仪3504-60 HIOKI 日本日置，谢小姐 ，， QQ：1679708890 微信：2530533819
2m长
9pin-9pin，1.8m长
横河电机集团创建于1915年，部设在日本东京。在全球60个和地区拥有113家子公司。经营领域涉及测量、控制、信息三大领域，在工业控制行业是全球为的跨国公司。1975年率先研制出世界上套具有划时代意义的集散型控制系统(DCS系统)，对石油、化工等大型工厂的生产过程进行测量、运行监视和控制，为工业的发展和社会的进步做出了极大贡献，到目前已相继推出了7代CENTUM DCS系列产品，流量表、变送器、分析仪等现场仪表也得到了用户的高度评价。
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