ic卡动态弯曲双向扭试验机核心功能与测试原理

芯片卡双边动态弯扭试验机核心功能与测试原理：

1‌.动态弯扭复合测试‌

设备可同时对芯片卡施加‌长边弯曲‌（位移量20mm±1mm）和‌短边弯曲‌（位移量10mm±1mm），并叠加‌±15°双向扭转角度‌（角度30°），模拟卡片在动态弯扭复合应力下的疲劳失效过程‌12。

2‌.多工位并行检测‌

配备15个独立工位（长边5工位、短边5工位、扭转5工位），支持批量测试智能卡、RFID标签等产品的机械耐久性‌。

芯片卡双边动态弯扭试验机仪器介绍：

IC卡动态弯扭测试仪用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡等卡的弯曲和扭曲性能测试。

本产品适用于轨道交通卡、银行*、医疗保险卡、智能卡、地铁卡、通讯卡、公交卡、会员卡等系列*的反复弯曲扭转试验，主要用于大专校、科研单位、质量检测中心、企业单位品质检测部门、实验室等*的物理力学性能、工艺性能的测试和分板研究，深受广大用户青睐。

芯片卡动态双边弯扭试验机是测试时对IC卡施加‌±15°‌的交替扭转角度（双向角度30°），并叠加长边‌20mm‌和短边‌10mm‌的弯曲位移，模拟卡片的动态弯扭应力环境‌。支持‌1~9999次‌循环测试，检测卡体疲劳寿命及芯片/磁条的耐久。用于验证银行卡、交通卡等‌磁条/芯片卡‌在频繁弯折场景（如钱包挤压）下的可靠性‌。

IC卡动态弯曲双向扭转试验机是一种专门用于测试IC卡（智能卡）在动态弯曲和双向扭转条件下的耐久性和机械性能的设备。

衡翼IC卡动态弯曲双向扭试验机常见标准：

‌GB/T 17554.1-2006‌ 识别卡测试标准‌

‌ISO 10373‌ 国际智能卡机械特性测试规范‌

ISO/IEC 7810：识别卡的物理特性标准。

芯片卡双边动态弯扭试验机技术指标：

型号：HY（IC）

測試速度：弯曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次                                                                          

扭曲度 ：±15°±1° 双向d=86 mm

正反向各15°，扭曲角度30°

长边大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

长边小位移量为2mm±0.50mm，

短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

长边小位移量为1mm±0.50mm，

夹具安装尺寸按照*标准执行。

长边弯曲工位数：5工位

短边弯曲工位数：5工位

双向扭转工位数：5工位

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W