AZX400日本理学RIGAKU具有高信噪比和高分辨率 X 射线荧光光谱仪
来源：北崎国际贸易（北京）有限公司
发布时间：2025-04-23 08:46:51
AZX 400
用于薄膜评估的 X 射线荧光光谱仪
将 Be~U 中的所有元素（包括 B、C、N 和 O）包含在一个单元中，这些元素是重要的半导体材料
波长色散 X 射线荧光 （WDX） 光谱仪的高端模型
WDX 具有高信噪比和高分辨率，使用可实现比能量色散 X 射线荧光 （EDX） 仪器更准确的分析。 高功率 X 射线管和于轻元素的光谱晶体可实现轻元素测量，例如 B、C、N 和 O，这是 EDX 无法实现的。 此外，由于 Si 的影响，难以用 EDX 分析的 Al 薄膜可以通过高分辨率的 WDX 清晰分离。
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AZX 400 规格
产品名称 阿兹 400 技术 扫描波长色散 X 射线荧光光谱法 （WDXRF） 用 分析所有样品的薄膜厚度和成分，例如 φ50 mm 至 φ300 mm 的晶圆、芯片、切割的晶圆等。 科技 将 Be~U 中的所有元素（包括 B、C、N 和 O）包含在一个单元中，这些元素是重要的半导体材料 主要组件 4 kW 封装 X 射线管、扫描测角仪、初级 X 射线滤光片、φ 30、20、10、1、0.5 mm 视场限制装置 选择 晶圆加载器、SQX 软件、CCD 相机 控制 （OC） 外部 PC、MS Windows®作系统、同步涂层厚度成分分析标准软件 本体尺寸 1376 （W） x 1710 （H） x 890 （D） 毫米 重量 约 800 kg（主机） 权力 三相 200 VAC 50/60 Hz，50A
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温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
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