4156B安捷伦半导体参数分析仪

4156B 安捷伦半导体参数分析仪

4156B 是安捷伦的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应。附加的功能：

高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，可扩展至 6 个 SMU

同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)

时域测量：60μs – 可变间隔，*多 10,001 个点

易于使用：类似于曲线*的旋钮扫描，自动分析功能

自动化：内置 HP Instrument BASIC、触发 I/O 功能

设置测量和/或压力条件

控制测量和/或压力执行

执行算术计算

在 LCD 显示屏上显示测量和计算结果

执行图形分析

存储和调用测量设置，以及测量和图形显示数据

转储到打印机或绘图仪以进行硬拷贝输出

使用内置的 HP Instrument BASIC 执行测量和分析

自检、自动校准

Agilent HP 4156B 是下一代精密半导体参数分析仪。您将获得*的数字扫描参数分析仪、可靠性测试仪、功能强大的故障分析工具和自动进货检测站，所有这些都集成在一台仪器中。

这个新系列经过明确设计，旨在为评估您的亚微米几何器件提供前所未有的精度和功能。使用一台灵活的仪器，您可以从材料评估和器件表征一直到*终封装部件检查和现场故障分析，提高您的半导体质量。

Agilent HP 4156B 提供四个内置电源/监控器单元 (SMU)、两个电压源单元 (VSU) 和两个电压监控器单元 (VMU)。Agilent HP 4156B 将电流分辨率扩展至 1 fA，准确度扩展至 20 fA。HP 4156B 在每个 SMU 上使用全开尔文遥感。

您可以随时添加配备 0V/1.6 A 接地装置的 Agilent HP 4150 1B SMU 和脉冲发生器扩展器。扩展器接受两个 10 0 mA/100 VSMU 或一个 1A/200V SMU，以及两个特别同步的 40V/200 mA/1 μs 脉冲发生器。

设置和测量

Agilent HP 4156B 可以使用许多测量单元（包括 Agilent HP 41501B 中的单元）执行阶梯和脉冲扫描测量以及采样（时域）测量，而无需更改连接。此外，您可以轻松地执行应力测量循环测试以进行可靠性评估，例如热载流子注入和闪存 EEPROM 测试。

设置和测量是通过设置页面并从前面板按键、键盘或 GPIB（SCPI 命令）填写空白来进行的。您还可以使用类似于曲线*操作的旋钮扫描功能即时测量和查找设置条件。

显示和分析

测量和分析结果显示在彩色液晶显示屏上，您可以将四个图形存储器中存储的图形叠加起来进行比较。许多强大的图形分析工具可以轻松分析和提取许多参数，例如 hFE 和 Vth。

一旦找到参数提取条件，就可以使用自动分析功能自动获取参数。

输出和存储

设置、测量和分析数据可以通过 GPIB、并行或网络接口 10 Base-TLAN 输出到彩色绘图仪和打印机。您还可以通过网络将数据以 MS-DOS 或 LIF 格式保存到磁盘或 3.5 英寸磁盘上。图形（HP-GL、PCL 或 TIF）输出文件允许您将图形传输到桌面出版软件。

重复和自动化测试

HP 4156B 中内置的 Agilent HP Instrument BASIC 控制器可以使用外部仪器构建自动测量系统，而无需控制器。Agilent HP 4156B 可以通过多功能触发 I/O 功能与外部仪器同步