TE 1250-0.1F涂层测厚仪系统校准方法

     SAUTER涂层测厚仪关机状态下同时按住"ON/OFF"键和"MENU"键，先放开"ON/OFF"键然后放开"MENU"键即可进入系统校准模式。
　　TE 1250-0.1F涂层测厚仪系统校准共需要五个标准样片，进入系统后首先显示"铁基"界面，此时要把探头放到被测件的裸露基体上进行测量。测量两次后如果测量没有错误操作，伴随着两声蜂鸣便进入个样片的测量。屏幕显示出厂时提供的个样片值。如果显示的样片值和真实值不符，可以通过"▲▼"键来进行加1或减1操作。按住"▲″或"▼"键不动可以连续加或减，直到调整到显示值和真实值相同为止。调整完样片值之后即可对个样片进行测量，测量两次无误后，伴随着两声蜂鸣，SAUTER涂层测厚仪进入下一个样片的校准。若测量两次后仍无两声蜂鸣，说明操作有误，重新测量一次即可。接下来四个样片的调整方法同上。
　　当第五个样片校准完成后屏幕显示"0000&&，进入开机界面如图A，仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。
　　注意事项：样片校准时要按照由小到大的顺序进行。