STP1100型分解产物检测仪

◇  2015年通过电科高低温性能试验，达A类潜伏性故障判断用仪器标准
◇  中电科[2016]343号文免检产品，以A级性能试验报告被列入入网检测合格产品名单

SDP1001R型露点仪

SDP1001L型露点仪

湿度/微水检测

◇  镜面法，高精度，误差＜0.1℃，分辨率0.01℃
◇  模糊控制技术，测量时间：3-5min

◇  适用于实验室用作比对标准

SDP1001C型露点仪

◇  镜面法，高精度，误差≤0.2℃
◇  模糊控制技术，测量时间短：1.5-3min
◇  适用于高温低湿测量条件，扩宽测量范围

SDP1001e型露点仪

◇  镜面法，高精度，误差≤0.2℃
◇  模糊控制技术，测量时间短：1.5-3min
◇  适用于高温低湿测量条件，扩宽测量范围

SDP1001R型露点仪

湿度/微水检测

◇  出厂采用镜面法露点仪比对多点折线
◇  探头保护技术
◇  15年技术积累

STP1100型分解产物检测仪

SF6或其混合绝缘气体[SF6/N2(CF4)]杂质检测，标准配置模块：SO2、H2S、CO；
可选配置模块：H2 、HF、CF4(微量)

◇  2015年通过电科高低温性能试验，达A类潜伏性故障判断用仪器标准
◇  中电科[2016]343号文免检产品，以A级性能试验报告被列入入网检测合格产品名单

SDP1001R型露点仪

SDP1001L型露点仪

湿度/微水检测

◇  镜面法，高精度，误差＜0.1℃，分辨率0.01℃
◇  模糊控制技术，测量时间：3-5min

◇  模糊控制技术，测量时间：3-5min

◇  适用于实验室用作比对标准

SDP1001C型露点仪

湿度/微水检测

◇  镜面法，高精度，误差≤0.2℃
◇  模糊控制技术，测量时间短：1.5-3min
◇  适用于高温低湿测量条件，扩宽测量范围

SDP1001e型露点仪

湿度/微水检测

◇  镜面法，高精度，误差≤0.2℃
◇  模糊控制技术，测量时间短：1.5-3min
◇  适用于高温低湿测量条件，扩宽测量范围

SDP1001R型露点仪

湿度/微水检测

◇  出厂采用镜面法露点仪比对多点折线
◇  探头保护技术
◇  15年技术积累