仪器介绍
天瑞Thick800A是先使用多道数据处理器的金属镀层检测仪。低的检出限使仪器的性能在与进口设备(费希尔,精工,牛津等)PK过程中不落下风;仪器使用方便,测试快捷,适用于各类型样品的厚度检测。
测量标准
1.标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
应用领域
铁基----□Fe/Zn,□Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni, □Fe/Cu/Ni/Cr, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基-----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr
锌基-----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
镁铝合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au
塑胶基体----plastic/Cu/Ni,plastic/Cu/Ni/Cr
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
仪器分析原理
仪器应用XRF光谱分析技术,X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子,出现壳层空穴,当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时,就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。
仪器配置
1 硬件:主机壹台,含下列主要部件:
①X光管
②半导体探测器
③放大电路
④高精度样品移动平台
⑤高清晰摄像头
⑥高压系统
⑦上照、开放式样品腔
⑧双激光定位
⑨玻璃屏蔽罩
2 软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3 计算机、打印机各台
计算机(,P4,液晶显示屏)、打印机(佳能,彩色喷墨打印机)
4 资料:使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。
5 标准附件
准直孔:0.1X1.0mm(已内置于仪器中)
技术指标
1.型号:Thick 800A
2.元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
3.同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
4.分析含量般为ppm到99.9% 。
5.镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)
6.任意多个可选择的分析和识别模型。
7.相互独立的基体效应校正模型。
8.多变量非线性回收程序
9.环境温度适应范围为15℃至30℃。
10.电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
11.外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
12.样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
13.重量:90kg
性能特点及优势
1.高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
2.采用高度定位激光,可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
3.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
4.定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
5.鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
6.高分辨率探头使分析结果更加,微小测试点更。
7.X射线镀层测厚仪厂家优势在于满足客户要求的情况下,价格更优惠、售后服务更方便,维护成本更低。
Thick800A操作流程:
1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”:
用户使用选择“Operator”用户名,点击“登录”进入软件
2.放入“Ag片”对仪器进行初始化
初始化完成后,(峰通道为1105,计数率达到定的数,如300以上)。
3.选择“工作曲线”
如待测样品是铁镀镍,则选择Ni-Fe;其他依次类推
4.待测样品测试
放入待测的样品,通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况,以及仪器的X射线的聚焦点(由图中激光的红斑所示)。可以通过软件提供的十字坐标(也称十字光标)来定位该聚焦点,将样品放在聚焦点位置。点击“开始”,输入样品名称后“确定”。
5.测试完成后即可保持报告,报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。
注意:测试镀层样品时,必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。
测试实例
镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试,其测试位置如图。
结论
实验表明,使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试,结果度高,速度快(几十秒),其测试效果完可以和显微镜测试法媲美。
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