京都玉崎供应KETT膜厚计薄膜测厚仪 L-500

来源:深圳京都玉崎电子有限公司
发布时间:2023-03-30 14:40:54

产品概要

薄膜测厚仪 L-500

主要规格


  • 测量方法电磁感应或涡流
    测量对象磁性金属上的非磁性涂层或非磁性金属上的绝缘涂层
    测量范围*因探头而异
    电磁型 (EP-100):0 至 2,500 μm 或 99.0 mils
    line; background-image: initial; background-position: initial; background-size: initial; background-repeat: initial; background-attachment: initial; background-origin: initial; background-clip: initial; outline: none; color: rgb(51, 51, 51);">涡流型 (HP-100):0 至 1,200 μm 或 47.0 mils
    测量精度*取决于探头
    line; background-image: initial; background-position: initial; background-size: initial; background-repeat: initial; background-attachment: initial; background-origin: initial; background-clip: initial; outline: none; color: rgb(51, 51, 51);">电磁型(EP-100):小于 15 μm:±0.3 μm、15 μm 或更大 1,000 μm:±2%、1,000 μm 或更大:±3%
    line; background-image: initial; background-position: initial; background-size: initial; background-repeat: initial; background-attachment: initial; background-origin: initial; background-clip: initial; outline: none; color: rgb(51, 51, 51);">涡流型(HP-100): 50μm以下:±1.0μm、50μm以上:±2%
    解决100μm以下:0.1μm、100μm以上:1μm
    符合标准电磁感应型:JIS K5600-1-7, JIS H0401, JIS H8401, JIS H8501, / ISO 2808, ISO 2064, ISO 1460, ISO 2178, ISO 19840 / ASTM B 499, ASTM D 7091, ASTM E 376 涡流
    型: JIS K5600-1-7, JIS H8680-2, JIS H8501 / ISO 2808, ISO 2360, ISO 2064, ISO 19840 / ASTM B244, ASTM D7091, ASTM E376
    统计功能测量次数、平均值、标准差、*值、*小值、分块、组
    探测一点接触恒压型(EP-100、HP-100)
    显示方式数字式(LCD,*小显示位数0.1μm)
    外部输出USB串口
    电源AC100-240V 或电池 1.5V(AA 碱性)x 8(主机 x 4,打印机 x 4)
    尺寸/质量126(W)×256(D)×93(H)mm, 750g
    配件铁基(EP-100用)、铝基(HP-100用)、标准板(10μm、50μm、100μm、500μm、1000μm、1500μm、近似值、各1片)、电池1.5V (AA碱性)AC适配器、电源线、探头适配器、背带、打印纸、表面保护膜、标准板盒、便携包、简易调整指南、使用说明书
    选项标准板(附件以外的厚度)、膜厚测量台LW-990、校准(校准证书、校准证书、溯源系统图)


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