OmniScan SX串列式试块CL-III

串列式试块CL-II   串列式试块CL-III

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串列式试块CL-I、CL-II、CL-III是用于超声检测的重要工具，通常遵循GB/T 11345-2013等相关标准。以下是它们的相关介绍：

• CL-I：厚度T为30mm，适用于相对较薄工件的检测，在检测时可模拟较薄焊缝或结构中的超声波传播和反射情况，为调整检测参数和评估检测结果提供参考。

• CL-II：厚度T为80mm，适用于中等厚度工件的超声检测，对于一些厚度适中的焊缝、板材等结构的检测，CL-II试块能够提供更接近实际情况的检测模拟，帮助检测人员确定合适的检测方法和参数。

• CL-III：厚度T为120mm，主要用于较厚工件的超声检测，针对厚板、大尺寸锻件等工件的检测需求，CL-III试块可以帮助检测人员校准检测设备，确保在检测厚工件时能够准确地识别和定位缺陷。

标签: 串列式试块 CL-I试块

CSK-IB型试块是依据GB/T11345-89钢焊缝手工超声波探伤标准的试块。具体介绍如下：

• 特点：CSK-IB试块在CSK-IA的基础上增加了测试斜探头折射角的刻度面。

• 用途

• 测定斜探头的入射点和前沿长度：利用半径R100mm曲面，将探头置于曲面上移动，可测定斜探头的入射点和前沿长度。

• 测定斜探头的折射角：利用Φ50和1.5mm圆孔，通过测量反射波的角度和位置，可计算出斜探头的折射角。

• 测定斜探头声束轴线的偏离情况：利用试块直角边，将探头靠近直角边进行检测，可判断斜探头声束轴线是否偏离。

• 测定探伤仪的性能：利用25mm厚度测定探伤仪水平线、垂直线和动态范围，评估探伤仪的准确性和稳定性。

• 调整探测范围和扫描速度：利用25mm厚度调整纵波探测范围和扫描速度；利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度。

• 测定斜探头分辨力：利用Φ50、Φ44和Φ40mm三个台阶孔，观察不同孔径反射波的分离情况，测定斜探头分辨力。

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