关于什么是膜厚计玉崎
来源：深圳市京都玉崎电子有限公司
发布时间：2024-11-16 14:44:49
例如，它用于检查难以目视测量的薄膜，例如漆膜或金属镀层的厚度。膜厚计的测量方法有多种，根据测量对象是否透光、接触式还是非接触式来选择测量方法。
膜厚计的应用
漆膜测厚仪主要用于测量涂漆表面漆膜的厚度。绘画应用于许多日常物品，如家用电器、汽车和其他日常用品，不仅可以保持美观，还可以增加耐用性。
漆膜厚度必须适当、均匀。如果漆膜厚度不合适，即漆膜太厚，会产生裂纹，太薄，则会产生变色、失光、基面劣化等问题。另外，如果不均匀，耐久性也会因地点而异，导致无法保持品质等问题。
因此，出于质量控制的目的，通常的做法是使用膜厚仪来测量和控制各种产品的膜厚。膜厚计有多种类型，根据测量对象使用适当的装置。例如，当测量透明薄膜的厚度时，使用使用宽带光的光谱干涉膜厚计或使用红外光的红外膜厚计。
然而，这些方法不能用于金属，因为它们不允许光穿过它们。测量金属镀层等薄膜时，适合使用利用磁通量变化的电磁式膜厚计和利用涡流的涡流式膜厚计。此外，如果难以触摸被测物体，也可使用超声波涂层测厚仪等非接触式涂层测厚仪。
膜厚计原理
膜厚计的测量方法有多种，根据测量对象使用合适的装置。以下五种方法具有代表性。
1、光谱干涉膜厚仪
利用光干涉的膜厚计。当光线进入待测物体时，会在薄膜的正面和背面发生反射。这两个反射光之间存在相移，并且该相移的发生取决于薄膜的厚度。当波同相位重叠时，它们会相互增强，而当它们以相反相位重叠时，它们会相互减弱，因此可以通过测量这种干涉差来测量厚度。
2、红外膜厚仪
这是利用红外线被测量对象物吸收的原理的膜厚计。当用红外线照射待测物体时，根据待测物体的材料和厚度，特定波长的红外线被吸收。该特性用于根据通过划分透射光或反射光获得的光谱来测量薄膜厚度。通过预先测量被测材料的吸收率与膜厚的关系，可以计算出被测材料的膜厚。
3、电磁膜厚计
这是利用磁通密度变化的膜厚计。这是当测量目标形成在磁性金属表面上时使用的测量方法，磁通量是利用密度变化这一事实的。但只有当被测物体与金属接触时才能使用，且被测物体不是金属。
4.涡流膜厚计
涡流膜厚计利用线圈产生的磁通量的变化来测量被测物体的厚度。通电的线圈周围会产生磁通，当线圈靠近被测量物时，磁通会根据被测量物的厚度而变化。通过检测该磁通量的变化来测量被测物体的厚度。
5、超声波膜厚计
超声波膜厚计是利用超声波反射的膜厚计。当超声波从被测物体的表面发射时，它会穿过物体的内部并从背面反射。可以根据反射发生所需的时间来测量厚度。
例如，当测量玻璃等透明薄膜的厚度时，使用使用宽带光的光谱干涉膜厚计或使用红外光的红外膜厚计。另一方面，这些类型的膜厚计不能用于不透光的材料，例如金属。
测量金属电镀等薄膜时，使用利用磁通量变化的电磁式膜厚计和利用涡流的涡流式膜厚计。此外，如果难以触摸被测物体，也可使用超声波涂层测厚仪等非接触式涂层测厚仪。
膜厚计的类型
膜厚计可分为接触式、非接触式、断面观察式三种。
1.接触式膜厚计
在接触式膜厚计中，传感器部和膜厚计主体通过电缆连接，通过使传感器部与测定对象物接触来测定膜厚。接触式膜厚计有电磁感应式、过流式、超声波式、触针式等。它是*正统的膜厚计，根据性能的不同，可以以数万日元到20万日元的价格购买。
接触式膜厚计使用方便，通过将传感器部分接触到想要测量的物质来显示数值。但是，由于反应速度因物质而异，因此传感器部分可能需要等待几秒钟才能反应。当使用接触式膜厚计、电磁感应式和过电流式时，需要根据形成测量目标的基板来使用它们。
电磁感应型用于钢铁等磁性材料，过电流型用于铝、不锈钢等非磁性材料。此外，还提供使用两种方法进行测量的双型，并且通过双型，可以测量磁性材料和非磁性材料。
2.非接触式膜厚计
非接触式膜厚计通过从膜厚计本身发射光并检测从膜表面反射的光和穿透膜的光的波长干涉作为光谱来测量膜厚。基本上，它们用于人们无法到达的地方，包括反射光谱型、红外型、电容型和辐射型。由于检测部分采用高精度半导体元件，因此比接触式成本更高。
3.断面观察式膜厚计
截面观察型膜厚计是TEM、SEM等电子显微镜。它用于测量无法使用接触或非接触方法测量的极小物质。然而，它通常用于研究和技术开发，很少在现场使用。
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