ASAHI-SPECTRA朝日分光 光学式膜厚計 OMD-1000
来源：高斯摩（成都）国际贸易有限公司
发布时间：2025-06-28 15:20:55
ASAHI-SPECTRA朝日分光 光学式膜厚計 OMD-1000
ASAHI-SPECTRA朝日分光 光学式膜厚計 OMD-1000
这是一种光谱薄膜厚度监测器，使用单色光监测基板在气相沉积过程中的光强度变化。 它也用于我们自己的气相沉积设备，并在充满作为气相沉积部件制造商*知识的膜厚监控装置中完成。它被连接到气相沉积设备上，并监测薄膜厚度。
它可以按照右侧所示进行安装。
| 型式 | OMD-1000 型 |
| 光谱仪类型 | Czerny-Turner单色 |
| 波长范围 |
保修范围：380~900nm工作 范围：350~1100nm |
| 波长分辨率 |
surito0.5mm：4.2nm[546nm] surito1.0mm：8.3nm[546nm] |
| 波长精度 | ±1.0纳米 |
| *小波长馈源 | 0.1 纳米 |
| 外部控制 | RS232C 控制器 |
| 外部输出端子 | DC0~2V（满量程） |
| 采样间隔 | 100ms 或更长 |
| 静电放电测试耐压 | ±5 kV（实际电压为 8 kV） |
| 光源 | 12V100W 卤素灯 |
| 光量安定性 | ±0.1%/h 以下 |
| 输入电压 | AC100V 50/60Hz |
| 允许的输入电压 | AC85~132V 交流 |
| 视在功率 | 340VA 或更低 |
| 使用环境 |
温度：10~35°C，湿度 ：20~80% |
长处
紧凑的设计，带有集成光谱仪
提高抗噪性，实现可靠的膜厚监测（静电放电测试耐压 ±5kV）
可通过 PC 的命令自动控制
控制器内置于接收器本体中，以实现高。
增强的波长范围
以前的型号是滤光片型波长选择，但新产品采用了我们经过验证的光谱仪，现在可以选择任何波长。
薄膜厚度变化的信号从电压输出更改为与个人计算机兼容的数字输出，控制机构由个人计算机的命令控制，而不是手动作。 此外，通过I/F直接连接个人计算机的薄膜测厚仪本体进行控制，因此没有其他制造商的控制器，因此是一个非常紧凑的系统。
ASAHI-SPECTRA（朝日分光）是日本*的光学技术企业，专注于高端分光器、光学滤光片及定制化光学元件的研发与生产。凭借数十年的技术积累，该在紫外（UV）、可见光（VIS）到红外（IR）光谱领域占据重要地位，产品广泛应用于半导体检测、生命科学、环境监测、工业测量及科研领域。核心技术优势
高精度分光技术：ASAHI-SPECTRA的分光器（如单色仪、光谱仪）以高分辨率、低杂散光特性著称，满足严苛的科研和工业需求。
*光学镀膜工艺：其光学滤光片（带通、长通、短通滤光片等）采用多层镀膜技术，实现优异的透射率、截止深度和热稳定性。
定制化解决方案：提供从标准品到完全定制设计的光学元件，灵活应对客户特殊波长、尺寸或性能要求。
核心产品线
单色仪与光谱仪：适用于激光分析、荧光测量等精密应用。
光学滤光片：涵盖紫外到红外波段，支持窄带、宽带及特殊形状需求。
光纤光谱系统：集成化设计，用于在线检测和实时监测。
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温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
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