吴江市仪器校准外校咨询-ST客服中心

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  力学类仪器校准:砝码、电子称、电子天平、压力表、扭力批、测力仪、推拉力计、拉压力试验机、摆锤式冲击试验机、布洛维氏硬度计、振动试验台、胶带剥离试验机、纸板环压试验机、冲击试验机、破裂强度试验机、数字式渗水性测定仪、拉链往复试验机等。



吴江市仪器校准外校咨询图(1)

光电雾度仪的原理

     雾度是透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比，用百分数表示。通常仅将偏离入射光方向2.5度以上的散射光通量用于计算雾度。光电雾度仪是根据GB2410-80及ASTM D1003-61(1997-2004)设计的小型雾度仪。适用于平行平板或塑膜样品的测试，能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。
     光电雾度仪具有结构小巧，使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定。一束平行光束入射某介质(如透明塑料)时，由于物质光学性质的不均匀性;表面缺陷，内部组织的不均匀，气泡和杂质存在等，光束就会改变方向(扩散和偏折)，产生的部分杂乱无章光线称散射光。

电力电子技术电力电子表技术是电力技术和电子技术的结合，可实现交直流电流的相互变换，并可在所需的范围内实现电流、电压和频率的自由调节。采用这些技术和产品，可做成各种特殊电源（如UPS、高频电源、开关电源、弧焊机逆变电源等）和交流变频器等产品。这些变频装置的核心，是大功率半导体器件。以磁传感器为基础的各种电流传感器被用来监测控制和保护这些大功率器件。霍尔电流传感器响应速度快，且依靠磁场和被控电路耦合，不接入主电路，因而功耗低，抗过载能力强，线性好，可靠性高，既可作为大功率器件的过流保护驱动器，又可作为反馈器件，成为自控环路的一个控制环节。

吴江市仪器校准外校咨询图(2)

    用透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比用百分数来表示，这就是所谓雾度。雾度大的试样给人的感觉将更加模糊。一般说来，各组热丝之间阻值的差值不应过0.2~0.5Ω，如出此值，应按处理。双路流量相差太大或气路泄漏的处理：两路流量相差过大可通过调节气路控制阀加以解决，但此时两气路不应有泄漏。调零电路有开路。记录器开路或无反应。基线噪声与漂移造成热导检测器基线不稳定的原因很多，大约有几十种，常见的有：电源电压太低或波动太大、同一相上的电源负载变动太大；气路出口管道中有冷凝物或异物；仪器接地不良；柱室温控不稳、检测室温控有波动或漂移；载气不干净、气路被污染、载气气路中漏气、载气压力过低或快用完；稳定阀、稳流阀控制精度差；双柱气路相差太大，补偿不良；载气出口有风或出口处皂膜流量计中有皂液；柱填充物松动；机械振动过大；桥路直流稳压电源不稳；(12)柱中固定相流失；色谱仪基线不稳时，首先检查色谱仪气路是否存在污染现象，在气路中不干净的条件下，许多本来在气路干净时对基线稳定性影响很小的因素(如气流流量变化、控温波动等)对基线的稳定性影响却会突然增大。
     光线在透过试样时还会产生损失，即穿过试样的透射光通量永远小于照射到试样上的入射光通量。两者之比，用百分数表示，上定义为透光率。引起透光率下降的原因是试样两个表面对光线的反射和试样对入射光线的全波长或部分波长的光能量吸收等。

    光电雾度仪,适用于平行平板或塑膜样品的测试，能广泛应用于透明、半透明材料雾度、透光率的光学性能检验。光电雾度仪具有结构小巧，使用操作方便的特点。光电雾度仪适用于各种材料的透光率和雾度值的测定

吴江市仪器校准外校咨询图(3)

如今，汽车排放污染已成为城市大气污染的重要因素，并且，217年我国进口石油的比例已经上升到使用数量的67%。随着能源以及环境问题的日益严峻，我国发展新能源汽车用电代油已成为一项重要战略。电动汽车的一个重要特点就是带有高压动力回路，其工作回路中的电压甚至可以达到6V以上。因此在考虑电动汽车给我们带来环保效益的同时，高压安全问题同样不容忽视。如何保护相关人员的安全已成为我们关注的重点。首先我们先定义一下高压安全。
MPT1000电机测试平台对于堵转电流测试，有一套完整的方案。堵转测试分为常规堵转测试和国标堵转测试。常规堵转测试，是经市场检验的易于使用和愿意接受的方案，过程简单，成本较低。当设备准备就绪后，给被测电机以额定电压，使其运行在空载状态下，运行稳定后给电机加载并逐渐增加负载，直至被测电机转速降低并堵转；或者采用MPT电机测试系统为客户定制的堵转件直接将电机堵转，再给电机施加额定电压。在电机停转的短时间内，利用高速、高精度数据采集系统采集被测电机的扭矩、电压、电流等数据并计算得出关于电机的测量参数和计算参数，并通过功率分析仪和工控机显示在屏幕上并储存下来，所存储的数据均可方便导出和打印，大大方便电机堵转数据的分析。由Eq.1可以看出，试件表面的温度响应与试件厚度L有关。当脉冲线热源激励在薄板上时，由于盲孔缺陷处的L值减小，盲孔缺陷处表面温度的幅值会增大，且根据matlab模拟得出结论，温度的衰减也会慢于正常区域。进行Abaqus模拟后，得出结论：当线热源扫描至缺陷位置时，在缺陷处温度突然升高，高于无缺陷处的位置；当线热源扫描过缺陷后，在缺陷处的热图像上发生明显高温处的温度拖拽现象。针对在粗扫检测阶段发现的排除噪音后温度疑似缺陷的微区域，在细扫描阶段的检测原理中，在该微区域内进行提高功率的快速细扫描，将快速扫描的线激光近似看作为面激光脉冲加热。

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