半导体热电特性综合实验仪 型号：JDBS-1
热电特性是材料的物理性质中的一个重要方面。本实验学测量半导体材料热电综合特性的实验方法及其实验装置，研究了不同材料的热电特性，并学智能化的综合测量和数据处理方法。本实验所用方法可用于生产实践，比如家用电器的温度测量与控制、车用半导体冰箱、航天器上的温差发电等方面。本实验体现了在一个实际的工程应用中，电学、半导体物理和热学知识的综合作用。
实验项目：
1.热电制冷器工作特性研究；
2.半导体热电材料的珀尔帖效应进行制冷或制热特性；
3.塞贝克效应；
4.半导体热敏电阻特性的研究；
5.金属电阻温度系数的测定；
6.PN结正向压降与温度关系的研究和应用；
7.电阻温度计与非平衡直流电桥。
技术指标：
高精度数字智能化恒温控制仪温度控制范围：
加热范围：室温～120℃
致冷范围：-10℃～15℃
控温精度：0.1℃
恒温稳定度：±0.1℃
数字温度传感器：-50～125℃，数显；
测温精度±0.1℃
计 时 器：六位数显，自动调节测量范围；
计时精度：0.1S
电流测量范围：0～2.400A测量精度：1mA
电压测量范围：0～24.000V测量精度：1mV
直流电功测量范围：99999.9J，六位LED数码显示；
恒流源：0～1000uA
配PN结；
配半导体热敏电阻；
