一、产品研发背景与定位
微电子器件小型化、薄型化、高密度化趋势下,传统通用双酚 A 环氧存在可水解氯含量高、高温吸湿后离子迁移、固化收缩大、微小间隙浸润差等缺陷,极易引发芯片漏电、金属焊盘腐蚀、封装分层、高温回流开裂等可靠性失效。
DIC EXA-850CRP 是 850 基础环氧的
低氯纯化改性版本,通过精馏提纯工艺降低可水解氯与离子含量,保留母体 850-S *低粘度、高粘接、耐候骨架结构;后缀 CRP 代表 Clean Resin Purified(高纯纯化洁净树脂),专门面向半导体、PCB、精密电子洁净制程,满足 RoHS、无卤、高可靠性电子材料标准,区别于通用工业级 850-S。
-
850-S:通用工业双酚 A 环氧,普通提纯,适用于普通涂布、五金防腐、普通灌封;
-
EXA-850CRP:微电子高纯纯化环氧,低可水解氯、低金属离子,适配芯片、PCB、精密电子高可靠场景。
二、分子结构与核心改性技术原理
2.1 基础分子骨架
母体为双酚 A 二缩水甘油醚(双酚 A 型标准环氧骨架),分子链段均衡,兼具刚性苯环与柔性醚键,实现平衡力学性能:
-
苯环结构:提供高玻璃化转变温度 Tg、高硬度、耐化学溶剂、耐湿热老化;
-
醚键柔性段:降低固化后脆性,缓冲热胀冷缩内应力,减少封装分层开裂;
-
缩水甘油环氧端基:高反应活性,与酚醛、脂环胺、改性芳香胺固化剂常温 / 中温均可交联固化。
2.2 CRP 高纯纯化核心改性工艺(产品核心差异化技术)
常规环氧合成副反应会生成有机氯化物(可水解氯)、微量钠 / 钾 / 铁金属离子,高温高湿条件下释放 Cl⁻,腐蚀铜线路、铝焊盘,造成半导体漏电失效。EXA-850CRP 采用两段式深度纯化工艺:
-
精馏脱除残留环氧氯丙烷中间体,大幅降低可水解氯(水解氯≤10ppm,远低于普通 850-S 300ppm 标准);
-
离子交换过滤去除合成催化剂残留金属离子,离子含量<50ppb,杜绝电化学迁移风险;
-
真空脱泡脱挥发分,低挥发份含量,回流焊无小分子析出鼓泡。
2.3 流变低粘度设计逻辑
分子聚合度*控制在窄分布区间,无高分子量支链杂质,25℃本体粘度维持低位,无需大量活性稀释剂即可浸润芯片 5~50μm 微小间隙,避免稀释剂降低固化后耐热、耐湿可靠性。
三、EXA-850CRP 标准关键理化技术参数
-
环氧当量(EEW):184~190 g/eq,标准双酚 A 环氧区间,固化剂配比通用易调配;
-
25℃粘度:12000~14000 mPa・s,低流动性阻力,微小缝隙自流平浸润;
-
可水解氯含量:≤10 ppm(微电子高纯等级,普通 850-S 约 200~300ppm);
-
氯(有机氯):≤300 ppm;
-
金属离子(Na⁺/K⁺/Fe³⁺):单种离子≤50 ppb;
-
挥发份:≤0.1 wt%,260℃回流无起泡、无小分子迁移;
-
色度(加德纳):≤1,浅透明淡黄色,适配光学芯片、COB 显示封装无黄变干扰;
-
密度(25℃):1.16 g/cm³;
-
储存稳定性:25℃密封避光 6 个月不结晶、粘度涨幅<10%;
-
合规标准:RoHS 2.0、无卤(Br、Cl 满足电子无卤规范)、REACH SVHC。
四、适配固化剂体系与固化物性能
4.1 主流匹配固化剂选型
-
酚醛固化剂(DIC HP 系列):高 Tg、耐湿热、低吸水率,半导体封装、底部填充*;固化后 Tg 可达 130~160℃,85℃/85% RH 双 85 测试吸水率<0.4%;
-
改性芳香胺固化剂:中温固化(120~150℃),粘接强度高,金属 / 硅芯片附着力优异,COB、元器件灌封;
-
脂环胺低温固化剂:80~100℃快速固化,适合热敏元器件保护涂层;
-
酸酐固化剂:极低粘度体系,高透明,光学电子、镜头粘接。
4.2 典型酚醛固化后关键性能(EXA-850CRP+HP4700 酚醛)
-
玻璃化转变温度 Tg:142℃;
-
弯曲强度:128 MPa,弯曲模量 3.2 GPa,刚性适中不易脆裂;
-
吸水率(85℃/85RH/168h):0.36%,远低于通用环氧;
-
体积收缩率:1.8%,低内应力,薄型芯片无翘曲分层;
-
铜基材剥离强度:115 N/cm,高温回流后附着力保留率 92%;
-
耐离子迁移:85℃/85RH/500V 偏压 1000h 无短路漏电;
-
热膨胀系数 CTE:α1=62 ppm/℃(Tg 以下),匹配硅、铜基材热膨胀差。
五、EXA-850CRP 六大核心技术竞争优势
5.1 CRP 高纯低氯纯化工艺,解决电子腐蚀失效
可水解氯≤10ppm,金属离子 ppb 级管控,双 85 湿热、高压偏压测试无氯离子析出腐蚀焊盘,大幅提升半导体器件长期可靠性,消费电子、车载电子严苛环境适配。
5.2 均衡低粘度 + 窄分子量分布,微小间隙*浸润
25℃粘度仅 12000~14000mPa・s,无需添加高比例活性稀释剂,可自流平渗透 5μm 芯片微间隙,底部填充无空洞、无气泡,提升封装良率。
5.3 低收缩低内应力,适配薄微型芯片
固化体积收缩仅 1.8%,搭配酚醛固化剂后热膨胀系数与硅晶圆、铜线路高度匹配,薄 COB、Mini LED 封装不会出现翘曲、分层、回流开裂。
5.4 低挥发无卤环保,适配高温回流制程
挥发份≤0.1%,260℃无铅回流焊过程无小分子释放、封装体不鼓泡;完全满足无卤电子标准,车载、工控、消费电子全场景合规。
5.5 广谱固化体系兼容,配方开发灵活
与酚醛、芳香胺、脂环胺、酸酐全系列固化剂兼容,可调配低温快速固化、高耐热高 Tg、高透明多类体系,一套树脂覆盖封装、灌封、涂层多工艺。
5.6 长期储存稳定,不易结晶,生产损耗低
窄分子量提纯去除易结晶杂质,常温 6 个月无结晶析出,不用低温仓储,生产线投料粘度稳定,减少堵点、涂布不均不良。
六、分行业工程应用与工艺价值
6.1 Mini LED / COB 显示芯片封装
工艺痛点:
微小芯片间隙填充易空洞;湿热氯离子腐蚀铝电极导致黑屏、暗点;薄型基板封装内应力翘曲分层。
EXA-850CRP 解决方案:
低氯低离子杜绝电极腐蚀;低粘度自流平填充微间隙无空洞;低收缩低 CTE 匹配基板,双 85 湿热 1000h 无分层,显示面板良率提升,延长显示屏使用寿命。
6.2 半导体分立器件、IC 底部填充
工艺痛点:
BGA/QFN 微小焊球间隙填充困难;高温高湿离子迁移短路;回流焊封装体鼓泡。
EXA-850CRP 解决方案:
低挥发份适配无铅回流;高纯低氯保护焊盘;搭配酚醛固化剂高耐湿热,车载功率器件、工控 IC 长期高可靠运行。
6.3 PCB 线路绝缘保护、阻焊改性树脂
工艺痛点:
普通环氧离子析出造成线路电化学迁移,高压绝缘失效;薄涂层浸润差、针孔多。
EXA-850CRP 解决方案:
ppb 级低离子含量保障高压绝缘;低粘度薄涂无针孔,用于精密工控板、传感器线路绝缘涂层。
6.4 热敏电子元器件灌封、传感器密封
工艺痛点:
EXA-850CRP 解决方案:
搭配脂环胺低温固化,无需大量稀释剂,固化后保持高耐湿低离子特性,温度传感器、医疗电子元器件密封保护。
6.5 光学精密组件粘接(镜头、光学模组)
工艺痛点:
EXA-850CRP 解决方案:
低色度浅透明基体,搭配酸酐固化剂高透光、低离子,车载摄像头、光学镜头粘接固定。
七、配套制程工艺管控要点
7.1 储存与投料管控
-
仓储条件:5~30℃密封避光,禁止低温冷冻(易结晶);
-
搅拌混合:树脂 + 固化剂配比*称重,真空脱泡 3~5min 消除气泡,避免封装空洞;
-
基材预处理:硅 / 铜基材轻微等离子清洗,提升粘接强度,减少分层风险。
7.2 涂布 / 点胶工艺参数
-
点胶温度:25~35℃适度升温降低粘度,提升微小间隙浸润;
-
点胶压力:低压慢速填充,防止裹入空气产生空洞;
-
固化曲线(酚醛体系标准):80℃预烘 30min→130℃主固化 90min,完整交联降低吸水率。
7.3 可靠性验证配套测试方案
-
基础可靠性:双 85 湿热 168h 吸水率、回流焊 260℃三次循环抗开裂;
-
电子可靠性:500V 高压偏压离子迁移 1000h、铜线路剥离强度;
-
封装验证:Mini LED COB 点灯老化 1000h 无暗点、无漏电。
八、EXA-850CRP 与通用 850-S 环氧差异化对比
|
对比项目
|
EXA-850CRP(微电子高纯款)
|
850-S(通用工业款)
|
|
可水解氯
|
≤10 ppm
|
200~300 ppm
|
|
金属离子
|
单离子≤50 ppb
|
ppm 级离子含量
|
|
挥发份
|
≤0.1%
|
0.3~0.5%
|
|
核心适用场景
|
半导体、Mini LED、PCB 精密电子
|
防腐涂料、普通灌封、工业涂布
|
|
双 85 离子迁移
|
无漏电、无腐蚀
|
长期湿热易线路腐蚀
|
|
无卤合规
|
完全满足
|
仅基础无卤,离子不管控
|
|
价格定位
|
微电子高端纯化原料
|
通用经济型工业原料
|
九、结
DIC 迪爱生 EXA-850CRP 依托专属 CRP 高纯离子提纯工艺,在经典双酚 A 环氧骨架基础上解决微电子行业氯离子腐蚀、离子迁移、封装空洞、内应力分层四大可靠性痛点。平衡低粘度浸润性、低固化收缩、低挥发、广谱固化匹配多重优势,是 Mini LED、半导体 IC 底部填充、PCB 绝缘、精密传感器密封等高可靠电子制程环氧树脂原料。在电子器件微型化、车载 / 工控严苛可靠性标准升级趋势下,EXA-850CRP 凭借极低离子、低氯纯化核心特性,有效降低封装失效不良率,成为高端微电子环氧配方核心基体树脂,具备极高工程配方落地与量产应用价值。