深圳京都玉崎SANKO-DENSHI三高测厚仪SWT-7000IV

来源:深圳市京都玉崎电子有限公司
发布时间:2026-06-04 19:38:47

SWT-7000IV

可更换探针。简便测量方法,键位布局简单

特别内容

  • 探头可根据测量的*应用选择。

  • 紧握感,身材纤细。

  • 操作步骤指导信息显示在液晶屏幕上。

  • 简单、易用的键操作,使用4个独立键。

  • 自动关机、USB数据传输器和倾斜支架都已配备。

  • 配备将单位转换为“mil”的功能。

应用

涂层/衬里/镀层

绝缘膜,如阳极氧化物涂层(ALMITE)

规格

分布范围

取决于可选探针

展示

图形液晶屏(数据、消息)、倒车灯

校准

两点校准类型

校准曲线

1

数据传输

USB

动力来源

干电池(LR6 1.5V)×2,AC适配器
连续工作时间:
50小时。

温度

0~40°C(非凝结)

尺寸

72(西)×30(H)×156(D)毫米

重量

200克

配件

干电池、手机壳、手提带线、
检查证书、光盘(说明书、
USB驱动器等)

选项

对于有色基底探针(Fe)对于有色基底探针(NFe)

其他

※SWT-7000 III系列已改装为7000 IV系列。
※SWT-7000III系列与7000IV系列探头不兼容。

深圳京都玉崎SANKO-DENSHI三高测厚仪SWT-7000IV

深圳京都玉崎SANKO-DENSHI三高测厚仪SWT-7000IV

深圳京都玉崎SANKO-DENSHI三高测厚仪SWT-7000IV

深圳京都玉崎SANKO-DENSHI三高测厚仪SWT-7000IV

以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,仪器仪表交易网对此不承担任何保证责任。
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。

上一篇: 深圳京都玉崎SANKO-DENS...
下一篇: 深圳京都玉崎推出SANKO-DE...

推荐资料