玉崎电子推出SANKO-DENSHI三高测厚仪SAMAC-FN

来源:深圳市京都玉崎电子有限公司
发布时间:2026-06-04 19:45:57

SAMAC-FN

可更换探针。简便测量方法,键位布局简单


特别内容

  • 利用基底金属自动选择进行测量

  • 在黑暗区域可以用背光测量。

  • FN型用于简单功能,Pro型用于高级功能

应用

涂层/衬里/镀层

阳极氧化物涂层/绝缘膜

规格

方法

双重(电磁/涡流)

分布范围

0~2.5(铁)/ 2.0毫米(NFe)

展示

图形液晶屏(数据、消息)、倒车灯

结局

1μm : 0~999μm(Fe/NFe底物)
切换至
0.1μm : 0~400μm(Fe/NFe底物)
0.5μm : 400~500μm(Fe/NFe底物)
0.01毫米 : 1.00~2.50毫米(Fe底物)
0.01毫米 : 1.00~2.00毫米(NFe底物)

精度(在平面上垂直测试)

0~100微米:±1微米(Fe/NFe底物)或读数
的±2%101微米~2.5毫米:±2%(铁基底物)101
微米~2.0毫米:±2%(NFe底物)

动力来源

干电池(LR03 X 2),连续运行时间:25小时

温度

0~40°C(非凝结)

尺寸

63(宽) x 84(高) x 30(深) 毫米

重量

大约125克

配件

厚度标准,零号检查板,携带箱

探针

一种点接触定压类型,带有横切V型测量
部分:φ28毫米,探头部分:φ10毫米

附加功能

·测量模式切换(保持/不中断)
·自动关机
・备用灯
·显示分辨率切换


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