红外显微镜是一种光学显微镜,采用微红外光谱技术,利用红外光分析微小区域。
由于使用长波长红外光作为光源,空间分辨率受衍射极限限制,但仍可进行光谱分析。 目前市场上许多红外显微镜结合了常见红外光谱仪的功能,如傅里叶变换红外光谱(FTIR)和全反射率。
红外显微镜被用于失效分析和材料科学研究,因为它们可以测量微观样品。 此外,红外吸收率的差异也用于检测固体中的异物污染,并有效检测有缺陷的产品。
它也被用作测量半导体厚度的方法。 半导体不仅以其在红外区域的透射距离为特征,还以其高折射率为特征。 需要使用红外光而非可见光进行光学测量,且由于红外线受高折射率影响,精度降低,这是缺点。
然而,它也有较小的优点,即较少受到被测物体表面不规则性的影响。 用红外显微镜测量半导体厚度的一种方法是干涉法,通过被测物体前后表面反射光的光程差来确定厚度。
红外显微镜的原理与通用光学显微镜相同。 红外显微镜结合了显微镜用于图像捕捉和光谱分析的功能。
具体来说,样品被放大并利用可见光观察以确定测量面积,然后切换到红外光进行测量。
一种红外显微镜是傅里叶变换显微镜,它结合了红外光谱仪和红外光谱仪的功能。
红外光谱仪是一种红外显微镜,通过对透射(或反射)光进行光谱分析,从而了解样品的特性。 与光学显微镜类似,它由光源、镜子、透镜和探测器组成。
依赖传统折射的透镜不用于红外显微镜。 一种名为卡塞格林光学系统的物镜被用于反射望远镜。
使用光学系统时,空间分辨率大致等同于光源的波长,范围限制在几微米到几十微米之间。 在使用红外显微镜进行FTIR成像时,红外光通常为2.5~25微米。
由于该波长波段受分子振动和旋转调制,扫描波长可获得物质特异性光谱。 通过应用类似傅里叶的傅里叶分析,可以将其叠加到显微镜获得的二维图像上来实现映射。
傅里叶变换型(FT-IR)是一种红外显微镜,它通过连续照射样品,而非红外光,以了解其特性。 在同时用干涉仪探测所有波长后,干涉图样被转换为傅里叶变换,以获得与分子结构相对应的吸收光谱。
傅里叶变换的主要优点如下:
实现多波段同时检测。
因为它不使用缝隙,因此具有较高的S/N比。
通过延长移动镜面的行程距离,可以提高波长分辨率。
通过更换光源和窗板,测量波长范围可以从远红外扩展到可见光。
常见的傅里叶变换类型包括DTGS(三酸甘油二氢硫酸盐)和MCT(汞-镉碲化合物)。
DTGS是一种热电探测器,响应时间较慢,信噪比低,可在室温下使用。 当探测器上的红外入射光较低时,适合使用灵敏度良好的半导体型MCT探测器。 然而,MCT探测器必须用液氮冷却。
