3．计算机接口与数据采集方式。有些老化测试系统采用分区方法，一个数据采集主机控制多个老化板，另外有些系统则是单板式采集。从实际情况来看，单板式方法可以采集到更多数据，而且可能还具有更大的测试产量。
4．对高速测试仪程序的下载及转换能力。有些老化测试系统有自己的测试语言，对需要做节点切换的被测器件不用再开发程序；而有些系统能够把高速测试仪程序直接转换到老化应用上，可以在老化过程中进行更准确的测试。
5．系统提供参数测试的能力。如果老化测试系统能进行一些速度测试，那么还可得到其他一些相关失效数据以进行可靠性研究，这也有助于精简老化后测试工艺。
老化的同时进行功能测试五
6．根据时间动态改变测试参数的能力，如电压与频率。如果老化测试系统能够即时改变参数，则可以加快通常属于产品寿命后期阶段故障的出现。对于某些器件结构，直流电压偏置及动态信号的功率变动都可加速出现晚期寿命故障。
7．计算机主机与测试系统之间的通信。由于功能测试程序非常长，因此测试硬件的设计应尽可能提高速度。一些系统使用较慢的串行通信，如RS-232C或者类似协议，而另一些系统则使用双向并行总线系统，大大提高了数据流通率。
结束语
在老化过程中进行测试会带来一些成本问题，但困难的是找出一个测试方法完成器件所有可能的测试项目。
对逻辑产品而言，JTAG法是一种通用的老化测试方式，因为器件上的测试端口是一致的，这样老化硬件线路就可保持不变。
对存储器而言，在小批量情况下，好是能有一种对易失性和非易失性存储器都能进行处理的测试系统；而在大批量情况下，则好是采用不同的系统以降低成本
