逻辑器件老化测试
逻辑器件老化测试是两类系统中难度大的，这是因为逻辑产品具有多功能特性，而且器件上可能还没有选通信号引脚。为使一种老化测试系统适应所有类型的逻辑器件，必须要有大量的输入输出引线，这样系统才能生成多引脚器件通常所需的多种不同信号。老化系统还要有一个驱动板，作为每个信号通路的引脚驱动器，它一般采用较大的驱动电流以克服老化板的负载特性。
输出信号要确保能够对需作老化的任何器件类型进行处理。如果老化板加载有问题，可以将其分隔成两个或更多的信号区，但是这需要将驱动板上的信号线数量增加一倍。大多数并行输出信号利用逻辑、预编程EPROM、或可重编程及可下载SRAM产生，用SRAM的好处是可利用计算机重复编程而使老化系统适用于多种产品。
逻辑器件老化测试主要有两种实现方法：并行和串行，这指的是系统的输入或监测方式。一般来说所有逻辑器件测试系统都用并行方式把大量信号传给器件，但用这种方式进行监测却不能将老化板上的每一个器件分离出来。
·并行测试法
并行测试是在老化过程中进行器件测试快的方法，这是因为有多条信号线连在器件的输入输出端，使数据传输量达到大，I/O线的输入端由系统测试部分控制。并行测试有三种基本方式：各器件单选、单引脚信号返回和多引脚信号返回。
·各器件单选 如果老化板上的器件可以和其他器件分离开，系统就可通过选择方法分别连到每一个器件上，如使用片选引脚，所有器件都并联起来，一次只选中一个器件生成返回信号(图2)。系统提供专门的器件选择信号，在测试过程中一次选中一个，老化时所有器件也可同时被选并接收同样的数据。
用这种方法每个器件会轮流被选到，器件和老化系统之间的大量数据通过并行总线传输。该方法的局限是选中的器件必须克服老化板及其他非选中器件的容性和感性负载影响，这可能会使器件在总线上的数据传输速度下降。
·单引脚信号返回 这个方法里所有器件都并联在一起，但每个器件有一个信号返回引脚除外，所有器件同时进入工作状态，由系统选择所监测的器件并读取相应的信号返回线。该方法类似于串行测试法，但信号引脚一般检测的是逻辑电平，或者是可以和预留值比较的脉冲模式。检测到的信号通常表示器件内部自检状态，它存在器件内以供测试之用，如果器件没有自检而只是单纯由系统监测它的一个引脚，那么测试可信度将会大大降低。
·多引脚信号返回 该方法和单引脚信号返回类似，但是从每个器件返回的信号更多。由于每个器件有更多信号返回线，所以这种方法要用到多个返回监测线路。而又因为必须要有大量返回线路为该方法，因此会使系统体成本急剧增加。没有内部自检而且又非常复杂的器件可能就需要用这种方法。
·串行测试法
串行测试比并行测试操作容易一些，但是速度要慢很多。除了每个器件的串行信号返回线，老化板上的每个器件通常都并联在一起。该方法用于有一定处理功能并可通过一条信号返回线反映各种状态的器件。测试时传送的数据必须进行解码，因此老化板上应有数据处理系统。
·RS-232C或同等协议 一种串行监测方法是在老化板上采用全双工RS-232C通信协议，所有器件的其他支持信号(如时钟和复位)都并联在一起(图3)。RS-232C发送端(TxD)通常也连到所有器件上，但同时也支持老化板区域分隔以进行多路复用传输。
