双型膜厚仪 SWT-NEO-FN 日本SANKO山高

来源:深圳京都玉崎电子有限公司
发布时间:2023-07-26 11:34:34

SANKO山高 双型膜厚仪 SWT-NEO-FN

SANKO山高 双型膜厚仪 SWT-NEO-FN


产品特点

黑色金属和有色金属材料的自动识别和测量

调零/标准调整后准备测量

 

产品规格

测量范围

铁基:0-3.00mm
有色基:0-2.50mm


显示方式

LCD数字、显示保持


显示分辨率

1μm:0~999μm

切换
0.1μm:0~400μm
0.5μm:400~500μm 0.01mm
:铁基(1.00~3.00mm)
有色金属基(1.00~2.50mm)


测量精度

均匀表面上 0 至 100 μm:±1 μm(黑色金属和有色金属)
或指示值的 ±2% 以内
101 μm 至 3.00 mm:±2% 以内(铁基)
101 μm 至 2.50 mm:± ±2% 以内2%(有色金属)


校准曲线记忆

黑色金属和有色金属各一个


电源

AA 碱性电池 (1.5V) × 2 连续使用时间(25 小时*)
AC 适配器(可选)
,带自动断电功能
**长(可能会因使用条件而异)


工作温度

0 至 40°C(无冷凝)


机身尺寸

72(宽)×30(高)×156(深)毫米


重量

约200g(含电池)


配件

标准厚度板、测试用调零板、干电池、储存盒、手带绳、保修和用户登记表、使用说明书


探测

1点恒压接触式,带V型切口,φ15×50.9mm


评论

还有一种具有记忆和统计功能的高性能SWT-NEO II型。


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