超声显微镜是一种利用超声波观察样品内部状况的显微镜。
它也被称为超声缺陷探测器(SAM)。 虽然其分辨率略低于工业领域常用的电子显微镜,但有些产品能够以比光学显微镜更高的分辨率测量微观区域,*重要的是,它们具有“观察内部”这一主要优势。
超声显微镜的*特点是能够“无损观察内部结构和缺陷”,而无需切割或拆解目标。
超声波在材料连续的区域会衰减,但在不同材料之间的间隙或边界等不连续区域传播,大部分是反射的。 利用这一特性,可以准确捕捉表面看不见的内部分层和空隙。
超声显微镜主要用于工业领域的产品质量控制和无损检测。 具体的使用示例包括以下几项:
电子元件如集成电路芯片和半导体封装的内部检测
金属和塑料等常见材料的内部缺陷检测
检查粘合剂和粘合剂的粘附力
不同材料结合面上的裂纹(裂纹)、空隙和分层检测
近年来,应用不仅在工业领域有所进展,也在生物学和医学领域有所进展。
超声显微镜的基本原理是利用超声波在不同物质边界处的“反射和透射”特性来形成图像。
在显微镜的核心“声学透镜”内部,有“压电元件”,将电信号转换为超声波(或反之)。 由该压电元件产生的超声波被照射到样品上,从样品内部返回的反射波(或穿过的透射波)随后被压电元件接收。 它是一种通过计算机分析接收到的超声波强度(幅度)和时间(相位)数据的系统,并将其可视化为具有不同阴影的图像。
超声显微镜主要根据检测方法分为两类:“反射式”和“透射式”。
该方法从样品顶部注入超声波,以检测从内部边界或底部表面反射的“反射波”。
由于无需将样品夹在上下透镜之间,因此可以测量样品而不受样品厚度限制。 此外,由于操作相对简单、操作简便,且能测量缺陷的深度(距离),它已成为目前市场上主流的超声显微镜。
该方法从样品顶部注入超声波,以检测“穿透并从底部穿透并流出”的传输波。
必须放置两个用于发射和接收的声学透镜,夹住样品。 它适合测量内部超声散射和吸收程度,但对于较厚的样品,超声会完全衰减,使测量变得困难。
选择超声显微镜时,重要的是根据你想观察的物体的特性和你想检测的缺陷大小确定*规格。
频段选择:超声波频率越高(高频),检测微小缺陷的分辨率越高,但超声波到达的深度(透射率)较浅。 相反,低频波穿透深度但分辨率降低。 通过观察表面附近或厚材料深处的细裂纹,选择频率合适的探针(探针)。
测量方法确认:如果你想识别一般厚度或深度中的缺陷位置,选择“反射类型”;如果想用类似薄膜的样品检查整体透明度,选择“透光类型”。
