Otsuka 大塚 紫外光谱光分布测量系统

一、产品概述

紫外光谱光分布测量系统是面向 UVA/UVB/UVC 紫外 LED 开发、固化 / 消杀产线质检的空间配光检测设备，搭载紫外线性扫描测角机构与紫外增强型 MCPD 多通道光谱采集单元，可全方位扫描紫外光源空间辐射分布，生成二维紫外辐射均匀性云图，直观量化灭菌、树脂固化紫外光源辐照不均缺陷，是 UV 产业链研发、量产闭环管控核心光学检测平台。

二、核心硬件技术参数

1. ：Otsuka 大塚

2. 检测原理：紫外光谱干涉反射法 + 自动旋转测角扫描架构

3. 扫描机构：双轴电动旋转载台，360° 全域扫描紫外光源空间光分布

4. 适配光源：UVC 消毒 LED、UV 固化灯珠、卷对卷 UV 涂布模组、平面紫外阵列光源

5. 光谱波段：深紫外 - 紫外 - 可见光，紫外光路滤除杂光干扰

6. 测量输出：紫外辐射通量、空间辐照度分布云图、峰值波长、紫外光谱曲线、均匀性差值

7. 整机结构：台式离线一体化平台，分体光纤采样，可搭配真空 KF 管路接入密闭 UV 固化腔体

8. 软件功能：内置紫外分析算法，自动标注辐照过强 / 偏弱区域，生成均匀性检测报告

三、核心技术优势

1. 全域紫外空间配光扫描，直观评估辐照不均匀性

区别单点固定紫外检测仪，自动旋转测角机构完整扫描光源全部发射角度，输出二维紫外辐射分布云图，*识别固化、消杀设备辐照盲区、边缘衰减、中心过曝缺陷，解决传统单点检测无法评估整面均匀性的痛点。

2. 紫外专属光学光路，规避可见光杂光干扰

光路、滤光片、光纤针对紫外波段优化，自动过滤可见光杂散光，弱紫外 LED、低功率固化灯测量无信号失真，多层复合紫外涂层拟合精度大幅提升。

3. 一站式同步获取光谱 + 空间分布双维度数据

单次扫描同步捕获任意角度紫外光谱与空间辐照强度，同时输出紫外辐射通量、峰值波长、平面均匀性，无需分两台设备测试，大幅缩短样品检测周期。

4. 适配灭菌、树脂固化全产业链场景

覆盖 UVC 空气 / 水体消毒模组、UV 树脂油墨固化灯、卷对卷涂布紫外阵列、光刻紫外光源，兼顾实验室新品配方研发、产线离线抽样质检两类场景。

5. 低析出洁净光路，无尘车间适配

光路接触面电解抛光低析出处理，无金属粉尘污染紫外基材，整机可放置千级无尘车间用于光学膜、半导体 UV 制程检测。

四、核心检测功能

1. 全方位扫描紫外 LED 空间光分布，输出二维紫外辐照均匀性云图，直观识别光源辐照不均缺陷；

2. 同步采集任意角度紫外光谱，解析紫外辐射通量、峰值波长、分波段辐射能量；

3. 适配灭菌消毒、树脂固化、光刻涂布等紫外应用产品研发与批次抽样质检；

4. 非接触无损光学测量，贵重紫外光源可重复测试，无样品报废损耗；

5. 可搭配 V-KF 真空管路组件接入密闭 UV 固化腔体，完成原位紫外光源空间分布监测。

五、典型应用场景

1. 消杀产业：UVC 深紫外消毒模组、空气净化 LED 阵列辐照均匀性离线评估；

2. 新材料加工：UV 树脂、油墨、胶粘剂卷对卷固化产线光源分布抽检；

3. 半导体光刻：光刻曝光紫外阵列光源空间辐照均匀性研发验证；

4. 工业印刷：UV 印刷固化灯、平板固化模组光分布缺陷分析。

六、同系列紫外检测设备选型区分

表格

七、配套系统搭配方案

1. 光谱采集核心：紫外增强型 MCPD 多通道光谱仪；

2. 真空工况配套：V-KF 系列 KF 真空波纹管、V-KF-P 密封垫圈、V-KF-CL 卡箍；

3. 自动化配套：自动上下料载台、MES 产线数据追溯上位机；

4. 校准耗材：标准紫外辐射光源、标准均匀紫外校准板，定期整机精度。

八、使用注意事项

1. 检测环境遮光处理，外界紫外杂光会干扰空间辐照测量精度；

2. 定期清洁测头光学窗口，固化粉尘、树脂挥发物遮挡光路会造成数据偏差；

3. 光纤探头禁止大幅度弯折、挤压，避免紫外光损耗升高降低重复性；

4. 真空密闭固化腔体必须使用无氧铜金属密封垫圈，橡胶密封件耐温上限 200℃；

5. 变频器周边通讯线缆增加电磁屏蔽，规避产线振动、电磁干扰导致光分布数据波动。