Otsuka 大塚 RETS-100nx 相位差延迟测量装置

一、产品概述

RETS-100nx 是面向显示光学薄膜行业的高精度相位差（Retardation）延迟测量设备，适配 OLED、LCD 全品类偏光片、相位差膜，*支持 60000nm 大 Re 量程，具备高速无损检测能力，无需剥离层压薄膜即可直接测量复合膜层压状态，配套智能校正软件消除样品重定位偏移误差，是液晶、OLED 显示光学膜研发与产线品质管控核心设备。

二、核心硬件技术参数

1. ：Otsuka 大塚

2. 型号：RETS-100nx 相位差延迟测量装置

3. 测量指标：面内相位差 Re、厚度方向 Rth、膜层双折射、光轴角度

4. 量程与分辨率：高 Re 测量量程，* 60000nm 高精度分辨

5. 适配薄膜：OLED 偏光片、层压复合相位差膜、IPS LCD 相位差偏光片各类光学薄膜

6. 测量模式：无损非接触测量，无需剥离层压复合膜

7. 测量速度：高速并行检测，适配实验室批量样品与产线在线抽检

8. 软件功能：自动校正样品重复定位偏移，一键输出相位差、光轴、双折射完整报告

9. 整机形态：台式一体化精密光学平台，可拓展自动化送料、产线装载工位

三、核心技术优势

1. 60000nm 大量程，高 Re 厚相位差膜全覆盖

行业宽量程设计，解决传统相位差仪仅适配小 Re 薄膜、厚层压补偿膜无法测量的痛点，兼顾 LCD 薄相位差膜与大延迟 OLED 复合补偿膜。

2. 层压薄膜无损直接测量，无需拆膜剥离

无需将多层复合光学膜剥离分离，直接对贴合、层压成品整片检测，保留真实工艺层压状态，*模拟终端屏幕实际工况光学性能，大幅减少样品制备损耗。

3. 样品重定位自动偏移补偿，重复测量精度稳定

内置校正算法，样品多次取放、重新定位产生的微小位移可自动补偿，同一样品多次测试数据一致性优异，降低人工对位操作门槛。

4. 全品类显示光学薄膜通用

一套设备兼容 OLED、IPS-LCD 两大主流显示体系所有偏光片、相位差膜，覆盖上游膜材生产、模组贴合全制程检测需求。

5. 高速测量适配产线批量质检

单次相位差、光轴、双折射全参数采集速度快，可搭配自动上下料模组，实现产线大批量薄膜无人值守连续筛查。

四、核心功能

1. 兼容 OLED 偏光片、层压相位差膜、IPS LCD 相位差偏光片全类型光学薄膜相位差测量；

2. 60000nm 大 Re 量程，实现高速、高精度相位差 / 双折射 / 光轴角度检测；

3. 无损测量复合层压薄膜，无需剥离膜层，还原真实层压工艺状态；

4. 配套智能校正软件，自动补偿样品重定位偏移，简化操作同时保障测量精度；

5. 全批次测量数据存储导出，用于光学膜配方研发、模组贴合工艺品质追溯。

五、典型应用场景

1. LCD 显示产业：IPS/VA 液晶面板相位差膜、背光偏光片相位差一致性检测；

2. OLED 柔性显示：OLED 复合层压补偿膜、圆偏光片大 Re 延迟*测量；

3. 光学膜材制造：相位差膜、偏光片上游原材料生产在线品质管控；

4. 显示模组厂：贴合后成品复合膜无损检测，评估层压工艺带来的相位差偏移；

5. 光学实验室：*高延迟补偿薄膜、柔性双折射材料研发表征。

六、同系列薄膜光学设备选型区分

表格

七、配套搭配方案

1. 自动化拓展：自动送料载台、产线 PLC/MES 数据对接上位机；

2. 光源模组：标准 JCSS 校准光源，定期相位差计量校准；

3. 软件：显示光学膜相位差分析软件，自动分级判定不良品；

4. 工况拓展：无尘产线适配防尘机架、真空薄膜样品台。

八、使用注意事项

1. 测量台面保持水平无尘，薄膜表面粉尘、划痕会造成相位差测量误差；

2. 层压薄膜测量避免挤压形变，应力会改变膜层双折射引入数据偏差；

3. 每年使用标准相位差校准片完成整机计量校准，保障显示行业出厂检测合规；

4. 设备放置区域规避强振动、温度大幅波动，防止光学光路漂移。