Otsuka 大塚 QE-2100 量子效率测量系统

一、产品概述

QE-2100 量子效率测量系统是面向荧光材料、光电功能材料开发的高精度荧光评估设备，可即时完成材料*量子产率（*量子效率）*测量，兼容粉末、溶液、固体薄膜多形态样品；搭载低杂散光多通道光谱探测器与积分半球光学单元，搭配再激发荧光校正算法，覆盖紫外 - 近红外宽光谱区间，还可实现量子效率温度依赖性测试，是钙钛矿、荧光粉、量子点、有机发光薄膜、光电催化材料研发核心表征平台。

二、核心硬件技术参数

1. ：Otsuka 大塚

2. 型号：QE-2100 量子效率测量系统（荧光评估装置）

3. 核心光学架构：积分半球高亮度光学系统 + 低杂散光多通道光谱探测器

4. 光谱范围：紫外 UV— 可见光 VIS— 近红外 NIR 宽波段全覆盖

5. 核心测量指标：*量子效率（*量子产率）、荧光发射光谱、激发光谱、量子效率温度依赖曲线

6. 适配样品：荧光粉末、发光溶液、固体基材、薄膜、量子点、钙钛矿光吸收层

7. 关键硬件模块：自动再激发荧光校正机构、温控样品台、低杂散光紫外光路

8. 配套核心：MCPD 系列多通道光谱仪，可拓展真空 KF 管路实现原位变温测试

9. 运行模式：台式离线实验室机型，支持变温样品台，完成温度依赖性同步测量

三、核心创新技术优势

1. 低杂散光多通道探测器，紫外波段测量精度大幅提升

消杂散光光路设计，显著抑制紫外区间杂散信号，解决荧光弱紫外激发样品光谱失真、量子效率计算偏差大的行业痛点，深紫外激发荧光材料测量重复性优异。

2. 积分半球高亮度光学系统，适配全品类弱荧光样品

采用积分半球采集结构，光收集效率更高，弱发光纳米粉体、薄薄膜、低浓度溶液荧光信号可完整捕获，无需高浓度样品预处理。

3. 内置再激发荧光自动校正功能

系统搭载自动再激发荧光校正算法，消除二次激发荧光干扰，多层发光、高吸收材料量子效率拟合精度显著优于传统积分球量子效率设备。

4. 多形态样品全兼容，无需更换核心光路

一套设备直接适配粉末、液体溶液、固体片材、薄膜四类主流荧光样品，仅更换简易样品夹具，大幅缩短样品切换测试周期。

5. 可实现量子效率温度依赖性原位测试

配套温控样品台，同步采集不同温度下材料量子效率变化曲线，适配光伏、催化、发光器件变温工况性能研究。

四、核心检测功能

1. 即时*测量各类荧光材料*量子效率（*量子产率）；

2. 紫外至近红外宽波段激发 / 发射荧光光谱同步采集；

3. 粉末、溶液、固体薄膜、量子点多形态发光材料通用检测；

4. 变温平台联动，获取量子效率温度依赖特性，评估材料温致发光衰减；

5. 低杂散光光路适配深紫外激发荧光体系，高精度解析紫外波段荧光性能。