Otsuka 大塚 量子点评估系统 量子点荧光光谱粒径分散一体化综合检测设备

一、产品概述

量子点评估系统是面向胶体、薄膜量子点材料开发的一体化综合表征平台，结合荧光光谱检测与粒径分散分析两大核心功能，针对量子点发射波长随粒径变化的核心特性，一站式完成量子点荧光光学性能、颗粒粒径分布、分散稳定性全维度评估，覆盖显示背光、光催化、照明、生物荧光量子点研发与质检场景。

二、核心检测原理

量子点存在量子限域效应，发射光谱波长直接由颗粒粒径决定；本系统依托 MCPD 多通道紫外增强光谱主机采集量子点荧光光谱，同步搭配动态光散射 / 显微粒径分析模组，关联荧光峰值波长与颗粒粒径分布，同时评估溶液、薄膜体系中量子点分散均匀性、团聚程度，完整量化材料发光品质与分散稳定性。

三、核心硬件技术参数

1. ：Otsuka 大塚

2. 系统名称：量子点评估系统

3. 核心组成：紫外激发光路、低杂散光荧光积分检测腔体、MCPD 多通道光谱仪、粒径分散分析模块、温控样品台、上位机综合分析软件

4. 检测对象：溶液态胶体量子点、固态薄膜量子点、粉末量子点

5. 核心测量指标：1）光学：荧光发射光谱、峰值波长、半高宽、*量子效率、色坐标、辐射强度2）颗粒：平均粒径、粒径分布宽度、团聚比例、分散稳定性时效变化

6. 光谱波段：紫外 - 可见光，适配 Cd 系、InP、钙钛矿等各类量子点

7. 整机形态：台式一体化实验室设备，可搭配 V-KF 真空管路拓展真空原位检测

8. 软件功能：自动建立波长 - 粒径对应曲线，输出分散稳定性分级报告

四、核心技术优势

1. 光学 + 粒径一体化同步检测，直接关联波长与粒径

一套系统同时完成荧光光谱与颗粒粒径分布测试，直观量化粒径不均带来的光谱色偏，解决分开两台设备测试数据无法对应、溯源困难的痛点，大幅缩短新品研发迭代周期。

2. 低杂散光紫外荧光光路，弱发光量子点高精度检测

紫外优化光路抑制杂散光干扰，低浓度、薄薄膜量子点微弱荧光信号无失真，*区分窄 / 宽发射半高宽，适配高色纯度显示级量子点严苛检测需求。

3. 兼容溶液、薄膜、粉末多形态量子点

更换简易夹具即可适配胶体溶液、旋涂薄膜、固态荧光粉体三类主流量子点样品，无需改造整机光路，覆盖合成、成膜全制程检测。

4. 分散稳定性长期时效监测

可连续采集不同静置时间下粒径、荧光光谱变化，量化量子点沉降、团聚、降解速率，评估墨水、固化薄膜存储使用寿命。

5. 搭配 MCPD 高速光谱主机，批量样品快速筛查

单次全光谱采集仅 5ms，搭配自动样品台可实现批量量子点样品无人值守连续检测，适配量产产线抽样品质管控。

五、核心功能

1. 完整评估量子点荧光光学特性，解析峰值波长、量子效率、光谱纯度；

2. 同步测量颗粒平均粒径、粒径分布，建立发射波长与粒径对应关系；

3. 评估量子点分散稳定性，监测团聚、沉降带来的发光性能衰减；

4. 适配胶体溶液、固态薄膜、粉末量子点多形态样品研发与品质抽检；

5. 可拓展真空、变温腔体，完成不同环境下量子点发光与粒径原位变化测试。

六、典型应用场景

1. 显示背光产业：Mini/Micro LED 背光量子点膜、彩色滤光片量子点色纯度、粒径均匀性检测；

2. 照明光学：LED 封装量子点粉体、色转换薄膜发光光谱与分散稳定性评估；

3. 光催化研发：钙钛矿量子点光催化材料粒径、荧光载流子分离效率表征；

4. 生物荧光标记：水溶性生物量子点荧光量子效率、颗粒分散时效测试；

5. 新材料合成实验室：量子点合成工艺优化，筛选粒径均一、高色纯度配方。